サンビーム共同体　ポスター発表一覧 　 　
S-01(SO-01) XAFSによるアルカリ水電解用電極触媒ショクバイの表面解析 川崎重工業(株) 谷口タニグチ達也タツヤ
S-02 高エネルギーX線を用いた遮熱コーティングの内部応力評価 川崎重工業(株) 根上将大
S-03 XRDによる高温酸化皮膜内応力の高温その場測定 (株)神戸製鋼所 山田　遥平
S-04(SO-02) X線吸収微細構造と中性子小角散乱による鉄さびの構造解析 (株)神戸製鋼所 阪下　真司
S-05  μビームXRDによる塗膜付き鋼材表面腐食生成物の深さ方向分布観察 (株)コベルコ科研カケン 森　拓弥
S-06(SO-03) X線セン吸収キュウシュウ分光ブンコウを用いた銅合金中の添加元素状態解析 住友電気工業(株) 後藤 和宏
S-07 CdTe二次元検出器を用いた金属材料の変形挙動解析2 住友電気工業(株) 徳田 一弥
S-08(SO-04) 発錆炭素鋼のさび層構造とカソード分極挙動 大阪大学/関西電力（株） 阿賀 一朗
S-09(SO-05) 高分子コウブンシ固定コテイCuナノ粒子リュウシ触媒ショクバイの構造コウゾウ解析カイセキおよび水素化スイソカ反応ハンノウへの応用オウヨウ （一財)電力中央研究所 亘理ワタリ 龍リュウ
S-10 硬X線光電子分光法を用いたワイドギャップ半導体ヘテロ界面のバンドアライメント解析 (株)東芝 吉木 昌彦
S-11 DAFS測定を用いた窒化物半導体の活性層評価 日亜化学工業（株） 宮野ミヤノ 宗彦ムネヒコ
S-12 マイクロ逆モンテカルロ法によるInGaN結晶ケッショウ内ナイの結合ケツゴウ距離キョリの揺ユらぎ評価ヒョウカ 日亜化学工業（株） 小林コバヤシ 裕ユタカ
S-13
HAXPESによる電気化学デバイス界面の構造および電子状態解析 *予稿のみ
(株）日産アーク 松本 匡史
S-14 マグネシウム電池活物質材料のXAFSによる解析 パナソニック(株) 成瀬　卓弥
S-15 熱ネツ散漫サンマン散乱サンランを用モチいた各種カクシュ結晶性ケッショウセイ材料ザイリョウ評価ヒョウカの検討ケントウ （株）日立製作所 米山ヨネヤマ明男アキオ
S-16(SO-07) 鉛フリー低融点ガラスの構造と熱・化学的安定性 （株）日立製作所 青柳拓也
S-17 イオンビーム照射で誘起された界⾯ラフニングの表⾯XRD解析[2] (株)富士通研究所 土井 修一
S-18 (仮カリ) 放射光によるLi2CoP2O7を用いた焼結型全固体電池の分析ブンセキ (株)富士通研究所 土井 修一
S-19 電圧デンアツ印加インカX線セン光電子コウデンシ分光ブンコウ法ホウによる酸化膜サンカマク/SiC基板キバン界面カイメン準位ジュングライの評価ヒョウカ 三菱電機(株) 今澤イマザワ 貴史タカシ
S-20 サンビーム（BL16XU・BL16B2）の現状 （一財)電力中央研究所 栃原トチハラ 義久ヨシヒサ
S-02, 04, 06, 08, 09, 16の5件は口頭でも発表します。（ ）内は口頭発表番号を示します。
各ポスターに対して、質問、コメント等がございましたら、sunbeam@spring8.or.jpまでお願いします。のちほど発表者からご連絡差し上げます。
オンラインポスター発表会について、ご意見、コメント等がございましたら、sunbeam@spring8.or.jpまでお願いします。のちほど担当者からご連絡差し上げます。