第６回サンビーム研究発表会

(第３回SPring-8産業利用報告会)

日時：　2006年9月5日(火) 〜 6日(水)

場所：　SPiring-8　放射光普及棟

主催：　産業用専用ビームライン建設利用共同体(サンビーム共同体)

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)

共催：　SPring-8利用推進協議会

サンビーム共同体発表内容

口頭発表　普及棟大講堂

13:00〜　 斜入射面内X線回折法によるイオンビーム照射ダメージの深さ分布評価

（株）日立製作所　　上田　和浩

13:20〜　 LSIパッケージ封止後のSiチップの非破壊応力評価　　　　　　　　　　　　（株）富士通研究所　野村 健二

13:40〜　 エアロゾルデポジション法による強誘電体膜構造　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電気（株）　中田　正文

14:00〜　 増幅用光ファイバ中の添加元素の局所構造解析　　　　　　　　　　　　　　住友電気工業（株）　飯原　順次

14:20〜　 自動車用排ガス浄化触媒のin situ XAFS分析　　　　　　　　　　　　　　　（株）豊田中央研究所　堂前　和彦

ポスター発表　普及棟中講堂　　【口頭発表あり】のポスター予稿は口頭発表のほうに記載しております

SP1. Quick scan XAFS計測システムの立ち上げ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（株）豊田中央研究所　野中　敬正

SP2. SR-XRDによる銅薄膜中残留応力分布の評価　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（株）神戸製鋼所　稲葉　雅之

SP3. XAFSによるNb酸化物の評価　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　三洋電機（株）　黒岡　和巳

SP4. 増幅用光ファイバ中の添加元素の局所構造解析【口頭発表あり】　　　　　　　住友電気工業（株）　飯原　順次

SP5. Bi 系超電導線材の焼結過程のin-situ評価2　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　住友電気工業（株）　飯原　順次

SP6. X線散乱による非晶質カーボンの構造解析　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　住友電気工業（株）　斎藤　吉広

SP7. リチウムイオン二次電池Sn系負極材料のXAFS解析　　　　　　　　　　　　　　　　　　ソニー（株）　工藤　喜弘

SP8. 低温作動固体酸化物型燃料電池実用サイズセルの残留応力解析　　　　　　　　　関西電力（株）　吉田　洋之

SP9. メタノール合成触媒CuO-ZnO-Al₂O₃のin-situ XAFSによる化学状態解析　　　　関西電力（株）　出口　博史

SP10. in-situ XAFS測定による希薄な溶液中セレンの酸化挙動の解析　　　　　（財）電力中央研究所　秋保　広幸

SP11. 蛍光収量法によるSi中AsのXAFS解析　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（株）東芝　山崎　英之

SP12. 自動車用排ガス浄化触媒のin situ XAFS分析【口頭発表あり】　　　　　　（株）豊田中央研究所　堂前　和彦

SP13. エアロゾルデポジション法による強誘電体膜構造【口頭発表あり】　　　　　　　　日本電気（株）　中田　正文

SP14. 斜入射面内X線回折法によるイオンビーム照射ダメージの深さ分布評価【口頭発表あり】

（株）日立製作所　上田和浩

SP15. LSIパッケージ封止後のSiチップの非破壊応力評価【口頭発表あり】　　　　（株）富士通研究所　野村 健二

SP16. 放射光によるCoPtCr-SiO₂垂直磁気記録媒体の積層欠陥定量化　

　　　　　　　富士電機アドバンストテクノロジー(株)　久保木　孔之

SP17. 蛍光XAFSによる，Siウェハ上，微量金属元素の分析　　　　　　　　　　　　　松下電器産業（株）　尾崎　伸司

SP18. X線吸収スペクトルによる臭素化合物の同定法の検討　　　　　　　　　　　　　　　　　三菱電機（株）　上原　康

注記：　サンビームは，大型放射光施設「SPring-8」のビームライン”BL16XU”　と　“BL16B2”　を指します。

　　　　　産業用専用ビームライン建設利用共同体は，上記13社・1法人で構成されています。