| JASRI ご挨拶 | |
| サンビーム挨拶 |
| 口頭及びポスター発表 |
| S-01 | 金属材料開発におけるSPring-8の活用 | (株)神戸製鋼所 | 中山 武典 |
| S-02 | 2次元XAFS法を用いた二次電池材料の価数分布評価 | (株)豊田中央研究所 | 山口 聡 |
| S-03 | 全反射X線回折による窒化物超格子の解析 | 日亜化学工業(株) | 川村 朋晃 |
| S-04 | XMCDによるネオジム磁石の磁気評価 | (株)日立製作所 | 上田 和浩 |
| S-05 | X線反射率、回折によるMnIr交換結合膜の磁気構造評価 | (株)富士通研究所 | 土井 修一 |
| ポスター発表 |
| S-06 | モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明 | 川崎重工業(株) | 清瀧 元 |
| S-07 | 二酸化炭素を吸収したアミン水溶液のX線散乱解析 | 関西電力(株) | 出口 博史 |
| S-08 | XAFSを用いた溶液中微量金属の形態解明と反応機構解析 | (財)電力中央研究所 | 秋保 広幸 |
| S-09 | 高エネルギーX線を用いた鋼板のin-situ評価 | (株)神戸製鋼所 | 北原 周 |
| S-10 | 微量金属元素を対象としたSR利用in situ評価 | (株)神戸製鋼所 | 稲葉 雅之 |
| S-11 | X線散乱/XAFS分析とシミュレーションによる増幅用ファイバ解析 | 住友電気工業(株) | 斎藤 吉広 |
| S-12 | X線回折法による金属ガラス界面酸化物の非破壊分析法の開発 | 住友電気工業(株) | 飯原 順次 |
| S-13 | リチウムイオン二次電池Co/Sn薄膜負極のXAFS解析 | ソニー(株) | 工藤 喜弘 |
| S-14 | 19素子SSDを用いたAsドーパントの高感度XAFS測定 | (株)東芝 | 高石 理一郎 |
| S-15 | 蛍光収量XAFSによるランタンハフネートゲート絶縁膜の局所構造解析 | (株)東芝 | 山崎 英之 |
| S-16 | Liイオン二次電池正極材料InSituXAFS測定 | 日亜化学工業(株) | 吉田 泰弘 |
| S-17 | In situ XRDおよびXAFSを用いた燃料電池アノード触媒電極の劣化解析 | 日本電気(株) | 松本 匡史 |
| S-18 | In-situ XAFS測定による白金触媒の酸素還元反応 | パナソニック(株) | 銭谷 勇磁 |
| S-19 | サンビームBL-16B2の大視野化 | (株)日立製作所 | 米山 明男 |
| S-20 | 新光触媒TiドープアパタイトのXAFS、X線回折による評価 | (株)富士通研究所 | 野村 健二 |
| S-21 | L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討(3) | 三菱電機(株) | 上原 康 |
| あとがき |