第16回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

　2003年1月に姫路にて開催されました第16回日本放射光学会において、新規導入した設備の立ち上げ実験および新規技術開発について以下の3件の発表を行いました。予稿集掲載原稿および当日のポスターセッションに掲示した原稿がご覧になれます。
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• 10P10 シリコンドリフト検出器のSR-TXRFへの適用
  〇尾崎伸司¹，野口真一²，飯原順次³， 竹村モモ子⁴，野中敬正⁵，出口博史⁶， 上村重明^{7
  1}松下テクノリサーチ，²電力中研，³住友電工， ⁴東芝，⁵豊田中研，⁶関西電力， ⁷SES
• 10P11薄膜・微量元素のXAFS測定における転換電子収量法と蛍光収量法の比較
  〇野中敬正¹，河瀬和雅²，尾崎伸司³， 堂前和彦¹，竹村モモ子⁴，三上朗⁵， 米山明男⁶，上村重明^{7
  1}豊田中研，²三菱電機，³松下テクノリサーチ， ⁴東芝，⁵三洋電機，⁶日立，⁷SES
• 10P37 放射光X線トポグラフィによるSiCウェーハの結晶完全性評価
  〇上村重明¹，工藤喜弘²，上原康³， 三上朗⁴，米山明男⁵，田沼良平⁶， 大森廣文⁷，広瀬美治⁸，出口博史⁹， 野口真一¹⁰，鎌田功穂^{10
  1}SES，²ソニー，³三菱電機， ⁴三洋電機，⁵日立，⁶富士電機総研， ⁷東芝，⁸豊田中研，⁹関西電力， ¹⁰電力中研
  

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