| 受付日 | JASRI No. | 課題番号 | 会社名 | 筆頭者氏名 | 発表先 | 題目 |
19 | 01/11 | | なし | ソニー | 川戸 清爾 | "第8回放射線プロセスシンポジウム
(2000年1月18日,東京)" | SPring-8産業界専用ビームラインの特徴と利用 |
20 | 02/02 | | なし | ソニー | 川戸 清爾 | 放射線と産業 86 (2000) | SPring-8産業界専用ビームラインの概要とその利用 |
21 | 03/29 | | C99B16XU-304-N | 住友電工 | 山口 浩司 | "材料とプロセス 33(3) 537 (2000)
(日本鉄鋼協会 第139回春季講演大会)" | 放射光を用いた高炭素鋼中のセメンタイトの結晶性評価 |
22 | 04/21 | 1093 | C99B16XU-308-N | 富士通 | 淡路 直樹 | "第47回応用物理学関連連合講演会
(2000年3月28日,東京)" | 波長分散斜入射蛍光X線による多層薄膜評価 |
23 | 05/29 | | C99B16XU-314-N | 住友電工 | 飯原 順次 | Proc. 9th German-Japan Workshop on Cehmical Information, p149 (2000) | X-ray emission spectroscopic analytical method for chemical characterization. |
24 | 07/25 | 1113 | C00A16XU-315-N | 東芝 | 竹村モモ子 | "日本分析化学会第49年会
(2000年9月26日,岡山)" | 放射光によるシリコンウェハ上の鉛,白金の全反射蛍光X線分析 |
25 | 07/28 | | C00A16B2-409-N | 関西電力 | 吉田 洋之 | "2000年電気化学秋季大会
(2000年9月12日,習志野)" | EXAFSによるセリア電解質の局所構造とその導電挙動との関係 |
26 | 08/09 | | なし | 日立 | 平井 康晴 | SPring-8 Annual Report 1999 | Industrial Consoritium ID (BL16XU) |
27 | 08/09 | | なし | 日立 | 平井 康晴 | SPring-8 Annual Report 1999 | Industrial Consoritium BM (BL16B2) |
28 | 08/25 | | C00A16XU-302-N | 三洋電機 | 三上 朗 | "第61回応用物理学会学術講演会
(2000年9月6日,札幌)" | プラズマCVDで作製した微結晶シリコンゲルマニウム(2) |
29 | 09/21 | | なし | 三洋電機 | 西野 潤一 | "第4回SPring−8シンポジウム
(2000年10月19日,SPring-8)" | "SPring-8産業界専用IDビームライン(BL16XU):
実験装置の概要と試用" |
30 | 09/26 | | なし | 関西電力 | 出口 博史 | "第4回SPring−8シンポジウム
(2000年10月19日,SPring-8)" | "SPring-8産業界専用ビームライン(BL16B2):
実験装置の概要と試用" |
31 | 10/26 | | C00A16B2-416-N | 電中研 | 山本 融 | "日本セラミックス協会第13回秋季
シンポジウム(2000年10月11日,北九州)" | ランタンマンガナイトの高温相転移挙動 |
32 | 10/26 | 692 | C00A16B2-416-N | 電中研 | 山本 融 | "電力中央研究所報告
(研究報告 W99016 2000年)" | 放射光施設(SPring-8)を利用したペロブスカイト型酸化物の局所構造解析 |
33 | 10/26 | | C00A16B2-416-N | 電中研 | 山本 融 | "(財)電力中央研究所 横須賀研究所
平成11年度主な研究成果の概要 P59" | 放射光施設(SPring-8)を利用したペロブスカイト型酸化物の局所構造解析 |
34 | 12/11 | | C00A16B2-409-N | 関西電力 | 吉田 洋之 | R & D New Kansai 2000年12月号 | "燃料電池材料の結晶格子内
局所構造の解析" |
35 | 12/11 | | C00A16B2-409-N | 関西電力 | 吉田 洋之 | "第9回SOFC研究発表会
(2000年12月14日,東京)" | EXAFS測定によるセリア電解質の局所構造とその導電挙動との関係 |
36 | 12/11 | | C00A16B2-409-N | 関西電力 | 吉田 洋之 | SOFC-7 (2001/6/3, Tsukuba-Japan) | Local structure analysis of single and double doped Ceria compounds using EXAFS. |
37 | 12/26 | 1002 | C00B16XU-3001-N | 富士通研 | 淡路 直樹 | Jap. J. Appl. Phys. 39(2000) pp.L1252. | Wavelength-Dispersive Total Reflection X-ray Fluorescence with High-Brilliance Undulator Radiation at SPring-8. |