| 受付日 | JASRI No. | 課題番号 | 会社名 | 筆頭者氏名 | 発表先 | 題目 |
| 67 | 01/28 | 1787 | "C00A16XU-311-N、
C00B16XU-3004-N" | 三洋電機 | 西野潤一 | 第2回関西半導体分析技術研究会 | SPring-8を利用したCuプロセスウエハの蛍光Ｘ線分析 |
| 68 | 02/15 | 1816 | C00A16XU-305-N | 日立 | 山崎孝則 | 平成１３年電気学会全国大会 | 放射光を用いた架橋ポリエチレン中の水トリーの微小分析 |
| 69 | 02/15 | 1817 | C00B16XU-3000-N | 日立 | 山崎孝則 | ＳＲ活用研究会有機系材料分科会 | 放射光による架橋ポリエチレン中に発生した水トリーの微小分析 |
| 70 | 02/15 | 1818 | C00B16XU-3000-N | 日立 | 長谷川正樹 | The 5-th Harima International Forum | Application of scanning x-ray microscope with K-B mirrors to copper interconnect at BL16XU of Spring-8 |
| 71 | 02/15 | 1820 | C00A16XU-300-N | 日立 | 長谷川正樹 | J. Appl. Phys. 90 (2001) 2792-2795 | Microscopic observation of Cu damascene interconnect grains using x-ray microbeam |
| 72 | 02/15 | 1847 | C00A16XU C00A16B2 | 日立 | 平井康晴 | 第９回放射線プロセスシンポジウム | SPring-8サンビーム(BL16XU&B2)の産業利用 |
| 73 | 02/15 | 1848 | C01A16XU-3010-N | 日立 | 平井康晴 | 第１5回日本放射光学会年会予稿集 pp.114 | サブミクロンＸ線ビームの形成と植物細胞内の元素分布観察 |
| 74 | 02/15 | 1849 | C00A16XU-300-N | 日立 | 長谷川正樹 | 第１5回日本放射光学会年会予稿集 pp.121 | Gaを用いたCuダマシン配線の原子拡散観察 |
| 75 | 02/18 | 登録中 | C00A16B2-412-N | 福岡大/コベルコ科研 | 松尾修司/渡部孝 | Analytical Science January2001, Vol.17, pp149-153 | X-ray Absorption Spectral Analyses by Theoretical Calculations for TiO2 and Ni-Doped TiO2 Thin Films on Glass Plates |
| 76 | 02/18 | 登録中 | C00B16B2-4010-N | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 第37回Ｘ線分析討論会講演要旨集 PP91-92(2001/10/29-30 つくば市） | XAFSによる鉄さびの局所構造解析 |
| 77 | 02/18 | 登録中 | C00A16B2-426-N, C00B16B2-4003-N | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 第4回XAFS討論会講演要旨集 PP85-86(2001/8/6-8 つくば市) | XAFSによるNOx吸着剤上のNOx存在形態の解析 |
| 78 | 02/18 | 登録中 | C00B16B2-4010-N | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 日本分析化学会第50年会講演要旨集 P344(3P1-36)(2001/11/23-25 熊本市) | XAFSによる金属酸化物系吸着剤上のNOx存在形態の解析 |
| 79 | 02/26 | 1600 | C00B16XU-3006-N | 鞄月ﾅ | 上牟田雄一 | 第37回Ｘ線分析討論会（2001/10/29 つくば市) | 高フラックス放射光による波長分散ＴＸＲＦ超微量分析 |
| 80 | 02/26 | 1870 | C998B16XU-308-N | 富士通研 | 淡路直樹 | SPring-8 Reserch Frontiers 1999-2000 p86-88(JASRI) | Grazing incidence x-ray fluorescence of magnetic multilayers |
| 81 | 02/26 | 1871 | C998B16XU-308-N | 富士通研 | 淡路直樹 | 放射光産業利用成果発表会 2001 | 磁性金属薄膜の斜入射蛍光X線分析 |
| 82 | 02/26 | 1872 | 2001A0342-NS-np | 富士通研 | 淡路直樹 | 弟62回応用物理学会学術講演会 講演予稿集No2 p613 | 波長分散TXRF：[1]装置と性能 |
| 83 | 02/26 | 1873 | 2001A0342-NS-np | 富士通研 | 淡路直樹 | 弟37回X線分析討論会 予稿集 2001 p109-110 | 高フラックス放射光による波長分散TXRF-濃縮法を用いた超微量分析 |
| 84 | 02/26 | 1874 | 2001A0342-NS-np | 富士通研 | 淡路直樹 | SPring-8利用情報誌 2002 vol7 No1 p28-33 | 半導体ウエハへのWD-TXRFによる極微量元素検出 |
| 85 | 03/25 | 1915 | C01B16XU-3011 | 日立 | 山崎孝則 | 平成１４年電気学会全国大会 | 放射光を用いた架橋ポリエチレン中の水トリーの微小分析（II） |
| 86 | 05/14 | 1762 | C99B16B2-404N | ソニー | 山田 淳夫 | J. Electrochem. Soc. 148 (2001) A1153 | Phase Diagram of Lix(MnyFe1-y)PO4 (0<=x,y<=1) |
| 87 | 05/14 | 1824 | C01A16B2-4002N | ソニー(株) | 李 国華 | Solid State Ionics 146 (2002) 55-63 | Structural changes of manganese spinel at elevated temperatures |
| 88 | 05/14 | 2048 | C00B16B2-4001-N | ソニー(株) | 宮嶋 孝夫 | physica status solidi (b) 228 (2001) 45-48 | Local Structure Analysis of Ga1-xInxN Alloy Using Extended X-Ray Absorption Fine Structure Measurements |
| 89 | 06/25 | 1932 | C00B16XU-3003-N | NEC | 木村 滋 | Appl. Phys. Lett. 80 (2002) pp. 2365. | Tetragonal distortion of c domains in fatigued Pb(Zr,Ti)O3 thin films determined by x-ray diffraction measurements with highly brilliant synchrotron radiation |
| 90 | 08/05 | 2836 | C01A16XU-3001-N | 三菱電機 | 上原 康 | "第49回応用物理学関係連合講演会
(2002.3.27-東海大学・湘南校舎)" | ECR-SiOx膜の膜質評価 |
| 91 | 11/28 | 3319 | C02A16B2-4021-N | 電中研 | 山本 融 | 日本セラミックス協会秋季シンポジウム、（開催日2002.09.24-都市名秋田) | 放射光による燃料電池材料の特性解明 |
| 92 | 11/28 | 3320 | C02A16B2-4021-N | 電中研 | 山本 融 | 電気化学会 第４３回電池討論会(開催日2002.10.12-都市名福岡) | SOFC電極用ランタンマンガナイトの高温相転移挙動 |
| 93 | 11/28 | 3321 | C01A16B2-4006-N | 電中研 | 山本 融 | 電気化学会SOFC研究会 SOFC研究発表会(開催日2001.12.06-都市名東京) | 電中研における最近のSOFC研究開発状況 |
| 94 | 11/28 | 3323 | C01A16B2-4006-N | 電中研 | 山本 融 | 燃料電池開発情報センター年報(Fuel Cell R&D in Japan)(2001年-124-125ページ) | 電中研における固体酸化物形燃料電池の開発状況 |
| 95 | 11/28 | 3324 | C01A16B2-4006-N | 電中研 | 山本 融 | （財）電力中央研究所 研究報告(No.W01027-2002年) | 放射光による材料評価技術に関する基礎検討−SPring-8産業用ビームラインでのＸ線分析技術の適用性評価− |
| 96 | 11/28 | 3325 | C01B16B2-4017-N | 電中研 | 山本 融 | （財）電力中央研究所 研究年報２００２年版(2002年-102-103ページ) | 大型放射光施設を活用したエネルギー関連材料のナノ構造評価技術の開発 |
| 97 | 02/20 | 3600 | C01B16XU-3004-N | （株）原子力安全システム研究所および関西電力（株） | 寺地 巧 | 環境助長割れに関するアジア研究者会議(2002/7/25-26) | Characterization of Oxide Film on Alloy600 in PWR Primary Water |
| 98 | 02/20 | 3608 | C01B16XU-3004-N | （株）原子力安全システム研究所および関西電力（株） | 寺地 巧 | （社）腐食暴食協会 第４９回材料と環境討論会（2002/9/5-7） | ＰＷＲ１次冷却材中で生成した６００合金の皮膜と溶存水素濃度との関係 |
| 99 | 02/20 | 3601 | C01B16XU-3004-N | （株）原子力安全システム研究所および関西電力（株） | 寺地 巧 | （社）原子力学会 ２００２年秋の大会（2002/9/14-16） | ＰＷＲ１次冷却水中で生成した６００合金の酸化皮膜構造解析 |
| 100 | 02/20 | 3610 | C01B16XU-3004-N | （株）原子力安全システム研究所および関西電力（株） | 寺地 巧 | （社）原子力学会 水化学セミナー（2002/8/21-23） | 高温高圧水中で生成した６００合金の皮膜と溶存水素濃度との関係 |
| 101 | 02/20 | 3602 | C01B16XU-3004-N | （株）原子力安全システム研究所および関西電力（株） | 寺地 巧 | Journal of the Institute of Nuclear Safety System, Vol.9, pp.124-135, 2002 | ＰＷＲ１次冷却材環境下で生成した６００合金の皮膜構造解析 |
| 102 | 02/20 | 3603 | C02A16B2-4008-N | 姫路工業大学および関西電力 | 岡田祥夫 | 第２８回固体イオニクス討論会（2002/11/13-15） | 高温プロトン導電性酸化物における酸素空孔の生成と消滅 |
| 103 | 02/25 | 3137 | C00A16XU-320-N | 住友電工 | 山口浩司 | 関西分析研究会 | 高Siピアノ線の微細組織評価による特性向上機構の研究 |
| 104 | 02/25 | 1732 | 2001A0342-NS-np | 住友電工 | 飯原順次 | X線分析討論会 | 高フラックス放射光による化合物半導体上の波長分散TXRF超微量分析 |
| 105 | 03/05 | 3621 | "C02A16XU-
3003-N" | 三洋電機 | 西野潤一 | 第４回関西半導体解析技術研究会 | SPring-8を利用したPoly-Si薄膜のＸ線回折測定 |
| 106 | 03/05 | 3622 | C01B16XU-3013-N | 富士電機総研 | 大沢通夫 | 富士時報 Vol.75 No.9 2002 | 放射光（SPring-8）利用による磁気記録媒体などの解析 |
| 107 | 03/05 | 3623 | C02A16XU-3000-N | 富士電機総研 | 田沼良平 | 第６３回応用物理学会学術講演会 | 非対称反射拡大による高空間分解能Ｘ線ﾄﾎﾟｸﾞﾗﾌｨｰ |
| 108 | 03/05 | 3624 | C02A16XU-3000-N | 富士電機総研 | 田沼良平 | 第６３回応用物理学会学術講演会 | ﾌﾚﾈﾙｿﾞｰﾝﾌﾟﾚｰﾄ拡大結像による高空間分解能Ｘ線ﾄﾎﾟｸﾞﾗﾌｨｰ |
| 109 | 03/11 | | なし | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 第16回放射光学会年会 | 薄膜・微量元素のXAFS測定における転換電子収量法と蛍光収量法の比較 |
| 110 | 03/11 | | C01B16B2-4000-N | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 第5回XAFS討論会 | 偏光XAFS法による銅フタロシアニン薄膜の配向性評価 |
| 111 | 03/11 | | C00A16B2-4008-N他 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 日本セラミックス協会2002年年会 | 放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定（1）-In situ XAFS測定- |
| 112 | 03/11 | | C00A16B2-4008-N他 | 竃L田中央研究所 | 奥田匠昭 | 日本セラミックス協会2002年年会 | 放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定（2）-Ｌｉイオン二次電池の劣化解析- |
| 113 | 03/11 | | C00B16B2-4012-N他 | 竃L田中央研究所 | 中野秀之 | 日本セラミックス協会2002年年会 | 放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定（3）-Li二次電池の劣化解析- |
| 114 | 03/11 | | C01A16XU-3018-N | 竃L田中央研究所 | 奥田匠昭 | 日本セラミックス協会第15回秋季シンポジウム | 放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定 (4)−マイクロXAFS解析− |
| 115 | 03/11 | | C00B16B2-4012-N | 竃L田中央研究所 | 中野秀之 | 日本セラミックス協会第15回秋季シンポジウム | LiNi0.5Mn0.5O2の構造と電気化学特性 |
| 116 | 03/11 | | C00B16B2-4012-N | 竃L田中央研究所 | 中野秀之 | J. Ceram. Soc. Jpn. (in press) | In Situ XAFS Study of LiNi0.5Mn0.5O2Cathode for Li Rechargeable Batteries |
| 117 | 03/11 | | C00A16B2-4008-N他 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 放射光産業利用研究会(中国技術振興センター) | リチウムイオン二次電池正極のin-situ XAFS測定 |
| 118 | 03/11 | | C00A16B2-4008-N他 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 放射光産業利用成果報告会（ひょうご科学技術協会） | リチウム二次電池の劣化解析 |
| 119 | 03/11 | | C00A16B2-4008-N他 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | SPring-8 Research Frontiers 1999/2000 | In-Situ XAFS Study on Cathode Materials for Lithium-Ion Batteries from the Standpoint of Industrial Use |
| 120 | 03/11 | | なし | 竃L田中央研究所 | 広瀬美治 | SPring-8利用者情報, Vol.7(6)pp.377 | 第２回サンビーム研究発表会 |
| 121 | 03/11 | | なし | 竃L田中央研究所 | 妹尾与志木 | 豊田中央研究所R&Dレビュー Vol.37(1) pp.37-42 | 放射光利用材料解析 |
| 122 | 03/11 | | C01B16XU-3012-N | 竃L田中央研究所 | 妹尾与志木 | SPring-8講習会 『燃料・2次電池の最先端技術』 | マイクロXAFS法によるLi二次電池正極材料の解析 |
| 123 | 03/11 | 2529 | 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N | 竃L田中央研究所 | 長井康貴 | Catal. Today, 74 (2002) 225 | "X-ray absorption fine structure analysis of local structure of CeO2-ZrO2 mixed oxides with the same
composition ratio (Ce/Zr=1)" |
| 124 | 03/11 | 3388 | 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N | 竃L田中央研究所 | 長井康貴 | 放射光, 15 (2002) 37 | 自動車触媒用酸素貯蔵材料CeO2-ZrO2複合酸化物のXAFS解析 |
| 125 | 03/11 | 3389 | 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N | 竃L田中央研究所 | 長井康貴 | R&D Review of Toyota CRDL, 37-4 (2002) 20 | Structure Analysis of CeO2-ZrO2 Mixed Oxides as Oxygen Storage Promoters in Automotive Catalysts |
| 126 | 03/11 | | 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N | 竃L田中央研究所 | 長井康貴 | SPring-8 Research Frontiers, 1999/2000, p. 46 | XAFS analysis of the local structure of CeO2-ZrO2 mixed oxides |
| 127 | 03/11 | | 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N | 竃L田中央研究所 | 長井康貴 | 兵庫県大型放射光施設活用産学官研究会「使ってみませんかSPring-8」 | 自動車触媒用酸素貯蔵材料CeO2-ZrO2の構造解析 |
| 128 | 03/13 | 3315 | 02A16XU-3011-N | 東芝 | 竹村モモ子 | 第63回応用物理学会学術講演会(2003/9/23新潟大学）25p-C-10 予稿集p.726 | 放射光蛍光X線分析による高誘電体中酸素の定量 |
| 129 | 03/25 | 3673 | C02A16B2-4010-N | 三菱電機 | 上原 康 | "第16回日本放射光学会年会
(2003年1月10日，姫路イーグレ）" | 転換電子収量法によるHfSiOx薄膜の局所構造解析 |
| 130 | 03/25 | 3674 | なし | SES | 上村重明 | 第16回日本放射光学会年会・放射科学合同シンポジウム | 放射光X線トポグラフィによるSiCウェーハの結晶完全性評価 |