受付日JASRI No.課題番号会社名筆頭者氏名発表先題目
6701/281787 "C00A16XU-311-N、 C00B16XU-3004-N"三洋電機西野潤一第2回関西半導体分析技術研究会SPring-8を利用したCuプロセスウエハの蛍光X線分析
68 02/151816 C00A16XU-305-N日立山崎孝則平成13年電気学会全国大会放射光を用いた架橋ポリエチレン中の水トリーの微小分析
69 02/151817 C00B16XU-3000-N日立山崎孝則SR活用研究会有機系材料分科会放射光による架橋ポリエチレン中に発生した水トリーの微小分析
70 02/151818 C00B16XU-3000-N日立長谷川正樹The 5-th Harima International ForumApplication of scanning x-ray microscope with K-B mirrors to copper interconnect at BL16XU of Spring-8
71 02/151820 C00A16XU-300-N日立長谷川正樹J. Appl. Phys. 90 (2001) 2792-2795Microscopic observation of Cu damascene interconnect grains using x-ray microbeam
72 02/151847 C00A16XU C00A16B2日立平井康晴第9回放射線プロセスシンポジウムSPring-8サンビーム(BL16XU&B2)の産業利用
73 02/151848 C01A16XU-3010-N日立平井康晴第15回日本放射光学会年会予稿集 pp.114サブミクロンX線ビームの形成と植物細胞内の元素分布観察
74 02/151849 C00A16XU-300-N日立長谷川正樹第15回日本放射光学会年会予稿集 pp.121Gaを用いたCuダマシン配線の原子拡散観察
75 02/18登録中C00A16B2-412-N福岡大/コベルコ科研松尾修司/渡部孝Analytical Science January2001, Vol.17, pp149-153X-ray Absorption Spectral Analyses by Theoretical Calculations for TiO2 and Ni-Doped TiO2 Thin Films on Glass Plates
76 02/18登録中C00B16B2-4010-Nコベルコ科研渡部 孝第37回X線分析討論会講演要旨集 PP91-92(2001/10/29-30 つくば市)XAFSによる鉄さびの局所構造解析
77 02/18登録中C00A16B2-426-N, C00B16B2-4003-Nコベルコ科研渡部 孝第4回XAFS討論会講演要旨集 PP85-86(2001/8/6-8 つくば市)XAFSによるNOx吸着剤上のNOx存在形態の解析
78 02/18登録中C00B16B2-4010-Nコベルコ科研渡部 孝日本分析化学会第50年会講演要旨集 P344(3P1-36)(2001/11/23-25 熊本市)XAFSによる金属酸化物系吸着剤上のNOx存在形態の解析
79 02/261600 C00B16XU-3006-N鞄月ナ上牟田雄一第37回X線分析討論会(2001/10/29 つくば市)高フラックス放射光による波長分散TXRF超微量分析
80 02/261870 C998B16XU-308-N富士通研淡路直樹SPring-8 Reserch Frontiers 1999-2000 p86-88(JASRI)Grazing incidence x-ray fluorescence of magnetic multilayers
81 02/261871 C998B16XU-308-N富士通研淡路直樹放射光産業利用成果発表会 2001磁性金属薄膜の斜入射蛍光X線分析
82 02/261872 2001A0342-NS-np富士通研淡路直樹弟62回応用物理学会学術講演会 講演予稿集No2 p613波長分散TXRF:[1]装置と性能
83 02/261873 2001A0342-NS-np富士通研淡路直樹弟37回X線分析討論会 予稿集 2001 p109-110高フラックス放射光による波長分散TXRF-濃縮法を用いた超微量分析
84 02/261874 2001A0342-NS-np富士通研淡路直樹SPring-8利用情報誌 2002 vol7 No1 p28-33半導体ウエハへのWD-TXRFによる極微量元素検出
85 03/251915 C01B16XU-3011日立山崎孝則平成14年電気学会全国大会放射光を用いた架橋ポリエチレン中の水トリーの微小分析(II)
86 05/141762 C99B16B2-404Nソニー山田 淳夫J. Electrochem. Soc. 148 (2001) A1153Phase Diagram of Lix(MnyFe1-y)PO4 (0<=x,y<=1)
87 05/141824 C01A16B2-4002Nソニー(株)李 国華Solid State Ionics 146 (2002) 55-63Structural changes of manganese spinel at elevated temperatures
88 05/142048 C00B16B2-4001-Nソニー(株)宮嶋 孝夫physica status solidi (b) 228 (2001) 45-48Local Structure Analysis of Ga1-xInxN Alloy Using Extended X-Ray Absorption Fine Structure Measurements
89 06/251932 C00B16XU-3003-NNEC木村 滋Appl. Phys. Lett. 80 (2002) pp. 2365.Tetragonal distortion of c domains in fatigued Pb(Zr,Ti)O3 thin films determined by x-ray diffraction measurements with highly brilliant synchrotron radiation
90 08/052836 C01A16XU-3001-N三菱電機上原 康"第49回応用物理学関係連合講演会 (2002.3.27-東海大学・湘南校舎)"ECR-SiOx膜の膜質評価
91 11/283319 C02A16B2-4021-N電中研山本 融日本セラミックス協会秋季シンポジウム、(開催日2002.09.24-都市名秋田)放射光による燃料電池材料の特性解明
92 11/283320 C02A16B2-4021-N電中研山本 融電気化学会 第43回電池討論会(開催日2002.10.12-都市名福岡)SOFC電極用ランタンマンガナイトの高温相転移挙動
93 11/283321 C01A16B2-4006-N電中研山本 融電気化学会SOFC研究会 SOFC研究発表会(開催日2001.12.06-都市名東京)電中研における最近のSOFC研究開発状況
94 11/283323 C01A16B2-4006-N電中研山本 融燃料電池開発情報センター年報(Fuel Cell R&D in Japan)(2001年-124-125ページ)電中研における固体酸化物形燃料電池の開発状況
95 11/283324 C01A16B2-4006-N電中研山本 融(財)電力中央研究所 研究報告(No.W01027-2002年)放射光による材料評価技術に関する基礎検討−SPring-8産業用ビームラインでのX線分析技術の適用性評価−
96 11/283325 C01B16B2-4017-N電中研山本 融(財)電力中央研究所 研究年報2002年版(2002年-102-103ページ)大型放射光施設を活用したエネルギー関連材料のナノ構造評価技術の開発
97 02/203600 C01B16XU-3004-N(株)原子力安全システム研究所および関西電力(株)寺地 巧環境助長割れに関するアジア研究者会議(2002/7/25-26)Characterization of Oxide Film on Alloy600 in PWR Primary Water
98 02/203608 C01B16XU-3004-N(株)原子力安全システム研究所および関西電力(株)寺地 巧(社)腐食暴食協会 第49回材料と環境討論会(2002/9/5-7)PWR1次冷却材中で生成した600合金の皮膜と溶存水素濃度との関係
99 02/203601 C01B16XU-3004-N(株)原子力安全システム研究所および関西電力(株)寺地 巧(社)原子力学会 2002年秋の大会(2002/9/14-16)PWR1次冷却水中で生成した600合金の酸化皮膜構造解析
100 02/203610 C01B16XU-3004-N(株)原子力安全システム研究所および関西電力(株)寺地 巧(社)原子力学会 水化学セミナー(2002/8/21-23)高温高圧水中で生成した600合金の皮膜と溶存水素濃度との関係
101 02/203602 C01B16XU-3004-N(株)原子力安全システム研究所および関西電力(株)寺地 巧Journal of the Institute of Nuclear Safety System, Vol.9, pp.124-135, 2002PWR1次冷却材環境下で生成した600合金の皮膜構造解析
102 02/203603 C02A16B2-4008-N姫路工業大学および関西電力岡田祥夫第28回固体イオニクス討論会(2002/11/13-15)高温プロトン導電性酸化物における酸素空孔の生成と消滅
103 02/253137C00A16XU-320-N住友電工山口浩司関西分析研究会高Siピアノ線の微細組織評価による特性向上機構の研究
104 02/2517322001A0342-NS-np住友電工飯原順次X線分析討論会高フラックス放射光による化合物半導体上の波長分散TXRF超微量分析
105 03/053621 "C02A16XU- 3003-N"三洋電機西野潤一第4回関西半導体解析技術研究会SPring-8を利用したPoly-Si薄膜のX線回折測定
106 03/053622 C01B16XU-3013-N富士電機総研大沢通夫富士時報 Vol.75 No.9 2002放射光(SPring-8)利用による磁気記録媒体などの解析
107 03/053623 C02A16XU-3000-N富士電機総研田沼良平第63回応用物理学会学術講演会非対称反射拡大による高空間分解能X線トポグラフィー
108 03/053624 C02A16XU-3000-N富士電機総研田沼良平第63回応用物理学会学術講演会フレネルゾーンプレート拡大結像による高空間分解能X線トポグラフィー
109 03/11なし竃L田中央研究所野中敬正第16回放射光学会年会薄膜・微量元素のXAFS測定における転換電子収量法と蛍光収量法の比較
110 03/11C01B16B2-4000-N竃L田中央研究所野中敬正第5回XAFS討論会偏光XAFS法による銅フタロシアニン薄膜の配向性評価
111 03/11C00A16B2-4008-N他竃L田中央研究所野中敬正日本セラミックス協会2002年年会放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定(1)-In situ XAFS測定-
112 03/11C00A16B2-4008-N他竃L田中央研究所奥田匠昭日本セラミックス協会2002年年会放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定(2)-Liイオン二次電池の劣化解析-
113 03/11C00B16B2-4012-N他竃L田中央研究所中野秀之日本セラミックス協会2002年年会放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定(3)-Li二次電池の劣化解析-
114 03/11C01A16XU-3018-N竃L田中央研究所奥田匠昭日本セラミックス協会第15回秋季シンポジウム放射光を利用したLi二次電池正極材料のin situ XAFS測定 (4)−マイクロXAFS解析−
115 03/11C00B16B2-4012-N竃L田中央研究所中野秀之日本セラミックス協会第15回秋季シンポジウムLiNi0.5Mn0.5O2の構造と電気化学特性
116 03/11C00B16B2-4012-N竃L田中央研究所中野秀之J. Ceram. Soc. Jpn. (in press)In Situ XAFS Study of LiNi0.5Mn0.5O2Cathode for Li Rechargeable Batteries
117 03/11C00A16B2-4008-N他竃L田中央研究所野中敬正放射光産業利用研究会(中国技術振興センター)リチウムイオン二次電池正極のin-situ XAFS測定
118 03/11C00A16B2-4008-N他竃L田中央研究所野中敬正放射光産業利用成果報告会(ひょうご科学技術協会)リチウム二次電池の劣化解析
119 03/11C00A16B2-4008-N他竃L田中央研究所野中敬正SPring-8 Research Frontiers 1999/2000In-Situ XAFS Study on Cathode Materials for Lithium-Ion Batteries from the Standpoint of Industrial Use
120 03/11なし竃L田中央研究所広瀬美治SPring-8利用者情報, Vol.7(6)pp.377第2回サンビーム研究発表会
121 03/11なし竃L田中央研究所妹尾与志木豊田中央研究所R&Dレビュー Vol.37(1) pp.37-42放射光利用材料解析
122 03/11C01B16XU-3012-N竃L田中央研究所妹尾与志木SPring-8講習会 『燃料・2次電池の最先端技術』マイクロXAFS法によるLi二次電池正極材料の解析
123 03/112529 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N竃L田中央研究所長井康貴Catal. Today, 74 (2002) 225"X-ray absorption fine structure analysis of local structure of CeO2-ZrO2 mixed oxides with the same composition ratio (Ce/Zr=1)"
124 03/113388 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N竃L田中央研究所長井康貴放射光, 15 (2002) 37自動車触媒用酸素貯蔵材料CeO2-ZrO2複合酸化物のXAFS解析
125 03/113389 2000A0143-NX-np and C99B16B2-417N竃L田中央研究所長井康貴R&D Review of Toyota CRDL, 37-4 (2002) 20Structure Analysis of CeO2-ZrO2 Mixed Oxides as Oxygen Storage Promoters in Automotive Catalysts
126 03/112000A0143-NX-np and C99B16B2-417N竃L田中央研究所長井康貴SPring-8 Research Frontiers, 1999/2000, p. 46XAFS analysis of the local structure of CeO2-ZrO2 mixed oxides
127 03/112000A0143-NX-np and C99B16B2-417N竃L田中央研究所長井康貴兵庫県大型放射光施設活用産学官研究会「使ってみませんかSPring-8」自動車触媒用酸素貯蔵材料CeO2-ZrO2の構造解析
128 03/133315 02A16XU-3011-N東芝竹村モモ子第63回応用物理学会学術講演会(2003/9/23新潟大学)25p-C-10 予稿集p.726放射光蛍光X線分析による高誘電体中酸素の定量
129 03/253673 C02A16B2-4010-N三菱電機上原 康"第16回日本放射光学会年会 (2003年1月10日,姫路イーグレ)"転換電子収量法によるHfSiOx薄膜の局所構造解析
130 03/253674 なしSES上村重明第16回日本放射光学会年会・放射科学合同シンポジウム放射光X線トポグラフィによるSiCウェーハの結晶完全性評価