受付日JASRI No.課題番号会社名筆頭者氏名発表先題目
15906/086268 C03B16XU-3014-N三菱電機上原　康第51回応用物理学関係連合講演会　（2004/03/29，東京工科大学）　29ｐ-C-3HfSiOx超薄膜の蛍光XAFSによる局所構造解析
16006/086269 C02A16B2-4010-N三菱電機上原　康日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会　第116回研究会（2004/05/25，大阪電通大）Hf系高誘電体薄膜のXAFSによる局所構造解析
16107/236375 C03A16XU-3001-N三菱電機河瀬　和雅三菱電機技報　78，(2004)，421.SR光を用いたX線反射率測定によるSiO2膜解析
16207/236393 C03A16XU-3001-N三菱電機河瀬　和雅"第64回応用物理学学術講演会　 （2003/08/30，福岡大学）　31a-P3-5""酸素ラジカル処理したCVDシリコン酸化膜の 高輝度放射光利用X線反射率測定"
16308/096546 C03A16XU-3003-N鞄月ﾅ大森廣文第51回応用物理学関係連合講演会　講演予稿集No.2(2004)　p871 2004/3/29開催(八王子市)放射光(SPring-8)を用いたX線反射率測定によるCeO2/Si基板構造の解析
16408/096547 C03B16XU-3016-N鞄月ﾅ山崎英之第51回応用物理学関係連合講演会　講演予稿集No.2(2004)　p876 2004/3/29開催(八王子市)放射光利用X線反射率法によるHfシリケート膜の構造解析
16508/096548 C03B16B2-4012-N鞄月ﾅ竹村モモ子第51回応用物理学関係連合講演会　講演予稿集No.0(2004)　p49 2004/3/29開催(八王子市)Hf系高誘電体非結晶質膜の構造評価
16610/196758 C04A16XU-3110-N富士電機ｱﾄﾞﾊﾞﾝｽﾄﾃｸﾉﾛｼﾞｰ久保木孔之第28回日本応用磁気学会学術講演会放射光Ｘ線回折法および透過電子顕微鏡法を用いたCoPtCr-SiO2垂直磁気記録媒体の結晶学的評価と気異方性との関係
16711/116811 C01B16XU-3005-N富士通研淡路　直樹Spectrochimica Acta part B vol.59 2004 1133-1139Wavelength dispersive grazing incidence X-ray fluorescence of multilayer thin films
16811/116812 C02A16XU-3009-N富士通研淡路　直樹PF/KENS合同研究会　2004.7.21 つくば、日本Evaluation of the advanced semiconductor interface by the synchrotron x-ray reflectometry
16911/116813 C03B16XU-3008-N富士通研淡路　直樹Advanced Metalization Conference 2004, 14th Asian Session (9.27-29.2004)New Evaluation Technique for Porous Films including Nano-Clustering Silica based on Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering with Two Component Pore Model
17011/115214 C03A16B2-4006Ｎ三洋電機加藤善雄2003年（秋）電気化学秋季大会Sn-Co系Li合金負極の構造安定性
17111/115680 C03A16B2-4023N三洋電機三上朗第17回日本放射光学会年会全電子収量法、転換電子収量法、蛍光法によるXAFS分析深さの評価
17211/115681 C03A16XU-3002-N三洋電機小出辰彦第6回関西半導体解析技術研究会X線を用いたSiGeエピタキシャル膜の結晶構造解析
17312/136907 C03A16XU-3004-N富士通研土井　修一"The Electorchemical Society (ECS) Joint International Meeting 2004, Oct.5 Honolulu, Hawaii "Strained Gate Dielectric
17412/166900 C04A16B2-4051-N関西電力（株）吉田洋之固体イオニクス討論会Study on the synthesizing process of the composite powders for SOFC prepared by spray pyrolysis method
17512/166926 C04A16B2-4051-N関西電力（株）吉田洋之SOFC研究発表会Study on the Drying and Pyroling Behaviors of the Composite Powders for SOFC Anode
17601/067080 C04A16B2-4050-N関西電力（株）渡部　創Euchem 2004 Molten Salts ConferenceStructure of molten LaF3 and alkali fluoride mixtures
17702/047005 C02B16XU-3016-N日立山崎孝則平成１５年電気学会全国大会　予稿集2-081 （2003年3月19日，仙台）放射光を用いた架橋ポリエチレン中の水トリーの微小分析（III）
17802/047006 C02B16XU-3016-N日立長谷川正樹第５０回春季応用物理学関係連合講演会　　　　　　　　　　（2003年3月27日，神奈川）Ｘ線マイクロビームを用いた微細Cu配線の結晶粒解析
17902/047008 日立平井康晴Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 521(2004)pp.538-548.The design and performance of beamline BL16XU at SPring-8
18002/047011 C03A16XU-3007-N日立平井康晴 第１７回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジュウム（2004年1月10日，筑波）マイクロ蛍光Ｘ線ＣＴ法によるバイオ試料の三次元元素分布観察
18102/047012 C02B16XU-3016-N日立平井康晴第５１回春季応用物理学関係連合講演会　　　　　　　　　　（2004年3月28日，八王子）微細Cu配線のＸ線マイクロビームによる結晶粒解析
18211/236861 C02B16XU-3009N富士電機アドバンストテクノロジー田沼良平Spectrochimica Acta Part B, 59 (2004) 1549-1555Submicron-resolved X-ray topography using asymmetric-reflection magnifiers
18302/237253 C04A16XU-3110-N富士電機アドバンストテクノロジー久保 登士和49th Conference on Magnetism and Magnetic Materials"Crystallographical Analysis of CoPtCr-SiO2 Perpendicular Recording Media with High Magnetic Anisotropy using Synchrotron Radiation X-ray Diffraction"