| 受付日 | JASRI No. | 課題番号 | 会社名 | 筆頭者氏名 | 発表先 | 題目 |
202 | 05/15 | 9333 | C03B16B2-4003-N, C04A16B2-4030-N, C04B16B2-4030-N, C05A16B2-4030-N | 住友電工 | 飯原順次 | 電子情報通信学会 光ファイバ応用技術研究会 | Local structure analysis of Er in Er-doped fiber with Al co-doping |
203 | 07/10 | 9593 | C02B16B2-4020-N | 三洋電機 | 田村 宜之 | "Journal of The Electrochemical Society
Vol.153, No.8, 2006, A1626-A1632 " | "Study on Sn-Co Alloy Anodes for Lithium Secondary Batteries
I. Amorphous System " |
204 | 09/25 | 9845 | 2005B5050 | 関西電力(株) | 吉田洋之 | 2006年電気化学会 秋季大会 | ランタンガレート系SOFCの残留応力解析 |
205 | 09/28 | 9012 | C05A16XU-3111-N | 富士電機アドバンストテクノロジー | 久保 登士和 | 50th Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials | Study of Stacking Faults Effect on Magnetic Anisotropy of CoPtCr-SiO2 Perpendicular Media by Synchrotron Radiation X-ray Diffraction |
206 | 09/28 | 9013 | C04A16XU-3110-N | 富士電機アドバンストテクノロジー | 久保 登士和 | J. Appl. Phys. vol.97, 10R510 (2005) | Crystallographic analysis of CoPtCr-SiO2 perpendicular recording media with high anisotropy using synchrotron radiation x-ray diffraction |
207 | 09/28 | 9869 | C04A16XU-3111-N | 富士電機アドバンストテクノロジー | 田沼 良平 | Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 45, No. 6A, 5280-5282 (2006) | Fresnel-Zone-Plate-Magnified X-ray Topography |
208 | 09/28 | 9871 | C05A16XU-3111-N | 富士電機アドバンストテクノロジー | 久保 登士和 | J. Appl. Phys., Vol. 99, 08G911 (2006) | Study of Stacking Faults Effect on Magnetic Anisotropy of CoPtCr-SiO2 Perpendicular Media by Synchrotron Radiation X-ray Diffraction |
209 | 10/02 | 9874 | 2004A 3061 | 鞄月ナ | 山崎英之 | 日本分析化学会第54年会 2005.09.14-09.16(名古屋市) | 放射光利用X線反射率法によるHfSiON膜の評価 |
210 | 10/02 | 9873 | 2003B 4012 2004A 4060 | 鞄月ナ | 竹村モモ子 | International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI) 2006.05.28-06.02、Daegu, KOREA | Characterization of Amorphous High-k Thin Films by EXAFS and GIXS |
211 | 10/06 | 9889 | 2005B 5362 | 鞄月ナ | 立部哲也 | 日本分析化学会 第67回分析化学討論会 講演要旨集P1019、p148 (2006.05.13-05.14) | 高エネルギーXPSによるクロメート膜の結合状態の評価 |
212 | 10/27 | 10037 | "C04A16XU-3030-N
C04B16XU-3031-N
2006A5331" | 住友電工 | 綾井直樹 | ASC 2006 | The Bi-2223 superconducting wires with 200A-class critical current |
213 | 10/27 | 10038 | 2005B5030 | 住友電工 | 福井治世 | SEiテクニカルレビュー | TiAlN/AlCrN超多層膜「スーパーZXコートTM」の開発と切削工具への応用 |
214 | 10/27 | 10039 | 2005B5032 | (株)アライドマテリアル/住友電工 | 星加昌則/飯原順次 | SEiテクニカルレビュー | 超微粒ビトリファイドボンドホイールの開発 |
215 | 10/27 | 10040 | C03B16XU-3002-P | 住友電工 | 福井治世 | ICMCTF | Effect of Depth Profile of Residual Stress on Milling Performance of TiAlN Coated Inserts |
216 | 10/27 | 10041 | 2003A 5330 | 住友電工 | 春名徹也 | Optics East 2006 | Bismuth-doped silicate glass fiber for ultra-broadbandamplification media |
217 | 10/27 | 10068 | C05A16B2-4030-N | 東京農工大/住友電工 | 富樫理恵/飯原順次 | 秋季 応用物理学会学術講演会 2006 | 第一原理計算及びX線吸収微細構造解析によるGaAs初期基板上半絶縁性GaN成長を目指したFeドーピングメカニズムの解明 |
218 | 10/27 | 10069 | C05A16B2-4030-N | 東京農工大/住友電工 | 富樫理恵/飯原順次 | IWN2006 | "First-principles calculation and X-ray absorption fine structure analysis of Fe doping mechanism for
semi-insulating GaN growth on GaAs substrates" |
219 | 11/06 | 7498 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 中村 大輔 | 2005年春季第52回応用物理学関係連合講演会 | 放射光X線トポグラフィによるSiC単結晶の転位構造解析(Dislocation-Structure Analysis of SiC Single Crystals by Synchrotron X-Ray Topography ) |
220 | 11/06 | 10088 | 2005B5070 | 竃L田中央研究所 | 中野秀之 | Angewandte Chemie International Edition, 45 (2006) 6303-6306 | Soft Synthesis of Single-Crystal Silicon Monolayer Sheets |
221 | 11/06 | 10089 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 山口 聡 | The Ninth International Conference on Synchrotron Radiation | Analysis of Dislocation Structures in Bulk SiC Single Crystal by Synchrotron X-Ray Topography |
222 | 11/06 | 10091 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 中村 大輔 | ICMAT-ICAM 2005 Symp. K, SiC and Relat. Mater | Ultrahigh-Quality Silicon Carbide Single Crystals |
223 | 11/06 | 10094 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 山口 聡 | Int. Conf. Silicon Carbide Relat. Mater. 2005 | The Synchrotron X-Ray Topographic Analysis of Dislocation Structure in Bulk SiC Single Crystal |
224 | 11/06 | 10095 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 中村 大輔 | Int. Conf. Silicon Carbide Relat. Mater. 2005 | Reduction of Dislocations in the Bulk Growth of SiC Crystals |
225 | 11/06 | 10097 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 中村 大輔 | 日本学術振興会結晶加工と評価技術第145委員会第106回研究会 | SiCバルク単結晶成長における転位低減 |
226 | 11/06 | 10100 | "C03A16B2-
4014-N" | "竃L田中央
研究所" | 中村 大輔 | 応用物理 V75, N9, 2006, 1140-1143 | 低転位密度SiC単結晶成長と転位構造解析(Growth and dislocation-structural analysis of ultrahigh-quality silicon carbide single crystals) |
227 | 11/06 | 10101 | 2005B5370 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 13th Int. Conf. on X-ray Absorption Fine Structure (XAFS13) | XAFS Study on Deterioration of Cathode Materials for Lithium-ion Batteries |
228 | 11/06 | 10102 | C02A16B2-4019N | 竃L田中央研究所 | 小林哲郎 | 56th Annu. Meet. of the Int. Soc. of Electrochem. | Insertion of Potassium Ion into Nickel Hydroxide with Electrochemical Redox Reaction |
229 | 11/06 | 10103 | C04A16B2-4070N | 竃L田中央研究所 | 廣嶋一崇 | 第96回触媒討論会A | PEFCカソード用CoTPP/C触媒のin-situ XAFS解析 |
230 | 11/06 | 10104 | C03B16B2-4005N | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 日本金属学会2005年春期(第136回)大会 | ゴムメタルのXAFS解析 |
231 | 11/06 | 10105 | C01B16XU-3012N | 竃L田中央研究所 | 奥田匠昭 | 電気化学会電池技術委員会第45回電池討論会 | リチウム二次電池正極材料のIn situ XAFS測定 |
232 | 11/06 | 10106 | C01B16XU-3012N | 竃L田中央研究所 | 妹尾与志木 | 日本顕微鏡学会第49回シンポジウム | X線マイクロビームを用いたLi二次電池正極材料の解析 |
233 | 11/06 | 10107 | C03B16B2-4014N | 竃L田中央研究所 | 廣嶋一崇 | 206th Meet. of the Electrochem. Soc. | The Oxygen Reduction Activity and Surface Structure of Co Tetraphenylporphyrin Supported on Carbon Black |
234 | 11/06 | 10108 | C02A16B2-4019N | 竃L田中央研究所 | 小林哲郎 | 206th Meet. of the Electrochem. Soc. | In-situ Measurement of Ni Valence in Nickel Hydroxide during Discharge |
235 | 11/06 | 10109 | C03B16B2-4005 | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 第7回XAFS討論会 | 新規β型Ti合金(ゴムメタル)のXAFS解析 |
236 | 11/06 | 10110 | C01B16XU-3012N | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 2004年春季第51回応用物理学関係連合講演会 | リチウム二次電池正極のin situマイクロXAFS解析 |
237 | 11/06 | 10111 | C01B16XU-3012N | 竃L田中央研究所 | 野中敬正 | 第317回電池技術委員会 | リチウム電池正極活物質のXAFS解析 |
238 | 11/09 | 10124 | C05A16B2-4030-N | 東京農工大/住友電工 | Y.Kumagai/J.Iihara | J.Cryst.Grouw. 296(2006)11-14 | Fe-doped semi-insulating GaN substrates prepared by hydride vapor^phase epitaxy using GaAs starting substrates |
239 | 11/09 | 10125 | C05A16B2-4030-N | 東京農工大/住友電工 | 富樫/飯原 | NCCG-36 | GaAs初期基板上半絶縁性GaN成長に向けたFeドーピングメカニズムの解明 |
240 | 11/13 | 10036 | C05A16B2-4040N | ソニー(株) | 高田智雄 | 電気化学会第73回大会(2006.4.1〜3、東京) | リチウムイオン二次電池用スズ系負極材料のXAFS解析 |
241 | 11/14 | | C03A16XU-3007-N | 日立 | 平井康晴 | The 9th international Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation(SRI 2006) | In Vivo X-Ray Fluorescence Microtomographic Imaging of Elements in Single-Celled Fern Spores |
242 | 11/14 | | "C05B16XU-3090-N
C05A16XU-3090-N " | 日立 | 平井康晴 | 第19回日本放射光学会年会 | 円偏光X線の生成と磁気ヒステリシス測定 |
243 | 11/14 | | C03A16XU-3007-N | 日立 | 平井康晴 | 第17回日本放射光学会年会 | マイクロ蛍光X線CT法によるバイオ試料の三次元元素分布観察 |
244 | 11/14 | | C05A16XU-3091-N | 日立 | 上田和浩 | 第42回X線分析討論会 | 異常分散利用差分反射率法による積層構造解析法の検討 |
245 | 11/14 | | C05A16XU-3091-N | 日立 | 上田和浩 | 埋もれた界面のX線・中性子解析に関するワークショップ2006 | 異常分散利用X線差分反射率法の検討 |
246 | 11/14 | | C03A16XU-3019-N | 日立 | 上田和浩 | 第19回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム | 斜入射面内X線回折法によるイオンビーム照射ダメージの深さ分布評価 |
247 | 11/14 | | C99B16XU-307-N | 日立 | 上田和浩 | 日本応用磁気学会誌Vol.29, No.8 (2005) | X線異常分散法によるCu/Ni0.8Fe0.2薄膜積層体の回折線分離法の検討 |
248 | 11/14 | | C03A16XU-3019-N | 日立 | 渡邉克朗 | 49th Conference on Magnetism & Magnetic Materials | Structure Alternation of Antiferromagnetic PtMn Films by Low-Energy Ar-Beam Etching |
249 | 11/14 | | "C01B16XU2-3016
C02A16XU-3002-N " | 日立 | 平野辰己 | X線・中性子による薄膜ナノ構造および埋もれた界面の先端解析技術に関するWS | X線・電顕による磁性多層膜のナノ構造解析 |
250 | 11/14 | | "C01B16XU2-3016
C02A16XU-3002-N " | 日立 | 平野辰己 | Trans. MRS-J 28(2003)pp35 | Layered Structure Analysis of Magnetic Multilayers |
251 | 11/14 | | "C01B16XU2-3016
C02A16XU-3002-N " | 日立 | 星野勝美 | 日本応用磁気学会誌Vol. 27, No.4 (2003) pp.311 | 積層フェリ固定層にFe酸化層を挿入したスピンバルブの磁気抵抗効果と自由層の磁気特性 |
252 | 11/14 | | "C01B16XU2-3016
C02A16XU-3002-N " | 日立 | 星野勝美 | 第26回日本応用磁気学会学術講演会 | Fe酸化層を挿入したスピンバルブにおける自由層の磁気特性 |
253 | 11/21 | 6859 | C04A-3080N, C04A-4080N | 日本電気(株) | 今井英人 | 204th Electrochemical Society Meeting 2004.10.03, Honolulu, USA | Structural and Electronic Properties of Platinum Nanoparticle Surface Studied by in situ X-ray Diffraction and in situ X-ray Absorption Spectroscopy |
254 | 11/21 | 6860 | C04A-4080N,C04A3080N | 日本電気(株) | 今井英人 | International Symposium on Nano-organization and Function, 2004.11.11-11.12 , Tokyo, Japan | "Structural and Electronic Properties of Platinum Nanoparticles Studied by in situ X-ray Diffraction and in situ X-ray Absorption Spectroscopy
" |
255 | 11/21 | 10241 | 2005B5080,2005B5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | Electrochemistry , 74 (2006) 833. | 放射光を利用した燃料電池触媒のナノ構造解析: 白金触媒のIn situリアルタイム観測 |
256 | 11/21 | 10242 | 2005B-5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | International Conference on Molecular Level Understanding of Catalysts & Photocatalysts (ICMLUCP) , 2006.06.05, Okasa, Japan | In-situ and Real-time Observation of the Electrochemical Oxidation of Platinum Catalysts |
257 | 11/21 | 10249 | 2005B-5080 | 日本電気(株) | 今井英人 | 電気化学会, 2006.04.01, 東京 | Real-time Observation of Electrochemical Oxidation and Reduction Processes of Platinum Catalysts: A High-energy X-ray Diffraction Investigation |
258 | 11/21 | 10251 | C05A-4080 | 日本電気(株) | 今井英人 | International Symposium on Elctrochemical Processing of Tailored Materials , 2005.10.03, Kyoto, Japan | Direct Observation of Electrochemical Oxdation and Reduction Processes of Platinum Nanoparticles by Using Time-Resolved Dispersive X-ray Absorption Spectroscopy |
259 | 11/21 | 10252 | C05A-4080 | 日本電気(株) | 今井英人 | International Fuel Cell Workshop 2005, 2005.09.23, Yamanashi, Japan | Direct Observation of Electrochemical Oxidation and Reduction Processes of Platinum Catalysis by Using Time-Resolved Wave-Length Dispersive X-ray Absorption Spectroscopy |
260 | 11/21 | 10253 | 2005B-5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | International Symposium on Surface Science 2005.11.14, Omiya, Japan | Direct Observation of the Electrochemical Oxidation and Reduction Processes of Platinum Nanoparticles |
261 | 11/21 | 10254 | 2005B-5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | 放射線と産業 (Radiation and Industries) 110 (2006) 28 | 放射光が推進する燃料電池開発 |
262 | 11/21 | 10255 | 2005B-5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | Materials Integration, 19 (2006) 7. | In situ and Real Time Observation of Electrochemical Oxidation of Platinum Catalysts |
263 | 11/21 | 10256 | 2005B-5380 | 日本電気(株) | 今井英人 | SPring-8の高輝度放射光を利用した先端触媒開発(単行本) p382 | 放射光を利用した燃料電池用電極触媒のその場表面状態解析 |
264 | 11/21 | 10257 | C04B-4080 | 日本電気(株) | 今井英人 | 電気化学会, 2005.04.01, 熊本 | Direct Observation of the Oxidation and Reduction Processes of the Platinum Catalysts by Using Time-Resolved Dispersive XAFS |
265 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | 材料と環境討論会(1999) | シンクロトロン放射光による鉄さび及びさび中PbのXAFSスペクトル測定 |
266 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | 色材協会誌、73(1)、22(2000) | 高輝度放射光の最近の利用 |
267 | 11/22 | | "C00B16B2-4003N
C01A16B2-4009N" | 神戸製鋼 | 坪田隆之 | 材料と環境討論会講演集、p.533(2001) | SR-XAFSによるTiの水素吸収に伴う構造変化 |
268 | 11/22 | | C02A16B2-4003N | 神戸製鋼 | 坪田隆之 | 材料と環境2002講演集、C-204S, p.295(2002) | SR-XAFSによるZn系化合物の構造解析 |
269 | 11/22 | | "C02A16B2-4003N
C02B16B2-4000N" | 神戸製鋼 | 坪田隆之 | 材料と環境討論会講演集、p.47(2002) | SR-XAFSによるAl添加人工Znさびの構造解析 |
270 | 11/22 | | "C00B16B2-4003N
C02A16B2-4003N
C02B16B2-4000N" | 神戸製鋼 | 坪田隆之 | 材料と環境討論会講演集、p.423(2002) | SR-XAFSによるTiの水素吸収に伴う構造変化(第2報) |
271 | 11/22 | | C02B16B2-4000N | 神戸製鋼 | 坪田隆之 | 材料と環境2003講演集、p.53(2003) | SR-XAFSによるFe添加人工Znさびの構造解析 |
272 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | 日本材料学会腐食防食部門委員会資料 41(225)、Pt.1、p.16(2002) | 放射光の構造材料の環境脆化研究への応用 |
273 | 11/22 | | "C99B16B2-408N
C00B16B2-4003N
C01A16B2-4012N" | 神戸製鋼 | 中山武典 | Proceedings of the Second International Conference on Environment sensitive Cracking and Corrosion Damage (ESCCD) 2001, p.219 (2001) | Effect of Ti on the Formation and Structure of β-FeOOH Rust |
274 | 11/22 | | "C99B16B2-408N
C00B16B2-4003N
C01A16B2-4012N" | 神戸製鋼 | 中山武典 | 13th Asian-Pacific Corrosion Control Conference (APCCC), A-06, (2003) | Improvement Mechanism of Resistance to Atmospheric Corrosion of Steels by an Approach of Artificial Sythesized Rusts |
275 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | 金属 73(8) p.89‐94(2003) | X線回折法及びX線吸収微細構造法による鉄さびの解析 |
276 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | 材料と環境 VOL.53,NO.1,PAGE.25-31 (2004) | 高輝度放射光の構造材料の環境脆化研究への応用 |
277 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | ふぇらむ VOL.10,NO.1,PAGE.9-13 (2005) | 放射光の環境脆化研究への応用 |
278 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | ADVANCES IN MATERIALS RESEARCH, Characterization of Corrosion Products on Steel Surfaces, Springer, p..223-244(2005) | Analysis of Iron Rusts by X-ray Diffraction and X-ray Absorption Fiine Structure Measurements |
279 | 11/22 | | なし | 神戸製鋼 | 中山武典 | Corrosion Engineering, 53, 47-58 (2004) | Application of Ultra-Bright Synchrotron Radiation for Environmental Degradation Studies for Structural Materials |
280 | 11/22 | | "C05B16B2-4011N
2005B5311" | 神戸製鋼 | 中山武典 | 材料と環境2006講演集 A311S, PAGE.119-120(2006) | 微量Ti添加β-FeOOHさびのXAFS測定 |
281 | 11/22 | | "2005B5311
2006A5310" | 神戸製鋼 | 中山武典 | 第53回材料と環境討論会講演集 C-113、PAGE.291-292(2006) | α-FeOOHさびの生成過程のXAFS測定 |
282 | 11/22 | | "C01A16B2-4012N
C02A16B2-4003N
C02B16B2-4000N" | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第16回日本放射光学会年会・放射科学合同シンポジウム(2003.1.9-11、姫路) | 微量金属元素を添加した人工生成さびのXAFS法による局所構造解析 |
283 | 11/22 | | C03A16B2-4021N | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第6回XAFS討論会(2003.9.25-27、千葉大) | 耐候性鋼板開発に向けた腐食生成物のXAFS法による局所構造解析 |
284 | 11/22 | | C03B16B2-4000N | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第17回日本放射光学会年会・放射科学合同シンポジウム(2004.1.8-10、つくば) | 亜鉛めっき鋼板表面における腐食生成物を模擬した人工さびの局所構造解析 |
285 | 11/22 | | "C03B16B2-4016N
C04A16B2-4013N
C04A16B2-4012N" | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第40回X線分析討論会(2004.11.5-6、東京理科大) | 鋼板表面さび層の制御に向けたSR利用分析 |
286 | 11/22 | | "C04A16B2-4011N
C04B16B2-4011N
C05A16B2-4010N
2005B5310" | 神戸製鋼所 | 武田実佳子 | Material Science Forum Vols. 522-523 (August 2006) pp.477-488 | Oxidation behavior and scale properties on the Si containing steels. |
287 | 11/22 | | なし | コベルコ科研 | 渡部孝 | 第1回サンビーム研究発表会(2001.8.3、SP-8) | 神戸製鋼所におけるサンビームを利用した材料評価技術の開発 |
288 | 11/22 | | C01A16B2-4012N | コベルコ科研 | 渡部孝 | 第2回サンビーム研究発表会(2002.9.12、SP-8) | 高温真空加熱炉を用いたin-situXAFSによる鋼中微量元素の状態分析 |
289 | 11/22 | | なし | コベルコ科研 | 渡部孝 | 第3回サンビーム研究発表会(2003.9.5、SP-8) | 神戸製鋼所における最近のSR応用研究 |
290 | 11/22 | | "C03B16B2-4000N
C04A16B2-4013N" | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第4回サンビーム研究発表会(2004.9.7、SP-8) | 鋼板表面さび層を制御するためのSR利用研究 |
291 | 11/22 | | "C04B16B2-4011N
C05A16B2-4010N" | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第2回SPring-8産業利用報告会(2005.9.5-6、SP-8) | in-situ XRDによるSi添加鋼の2次スケール生成挙動の解析 |
292 | 11/22 | | C05A16B2-4011N | コベルコ科研 | 世木隆 | 第2回SPring-8産業利用報告会(2005.9.5-6、SP-8) | SDDによるβ-FeOOHさび中極微量TiのXAFS測定・評価 |
293 | 11/22 | | "C04B16XU-3010N
2005B5010
2006A5010" | コベルコ科研 | 稲葉雅之 | 第3回SPring-8産業利用報告会(2006.9.5-6、SP-8) | SR-XRDによる銅薄膜中残留応力分布の評価 |
294 | 11/22 | | C05A16B2-4011N | コベルコ科研 | 世木 隆 | X線分析の進歩 2006年第37巻 325頁 | Ti添加b-FeOOHさびのXAFS解析 |
295 | 11/22 | | C05A16B2-4011N | コベルコ科研 | 世木 隆 | 第41回X線分析学会(2005年10月21日, 京都) | Tiクラスター添加b-FeOOHさびのXAFS解析 |
296 | 11/22 | | "C01A16B2-4012N
C02A16B2-4018N" | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 第5回XAFS討論会(2002.8.1-3、広島大) | 高温真空加熱炉を用いたin-situXAFS実験によるナノメタル鋼の析出相の評価 |
297 | 11/22 | | "C01B16B2-4016N
C02B16B2-4020N
C03A16B2-4025N" | コベルコ科研 | 渡部 孝 | KEK Proceedings 2004-2005, August 2004 pp.43-46 | X線散漫散乱を利用した反射率モードXAFS実験 |
298 | 11/22 | | "C01B16B2-4016N
C02B16B2-4020N
C03A16B2-4025N" | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 第17回日本放射光学会年会・放射科学合同シンポジウム(2004.1.8-10、つくば) | DS-XAFS〜金属表面・界面の新しい構造解析技術〜 |
299 | 11/22 | | "C02B16B2-4003N
C03A16B2-4022N" | 神戸製鋼所 | 家口 浩 | 日本鉄鋼協会春季講演大会(2006.3.23) | ナノCu粒子の水素吸蔵特性 |
300 | 11/22 | | C99B16B2-408N | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 日本金属学会秋季大会(1999.11.20-22、金沢) | 人工合成した鉄さびのSR-XAFS解析 |
301 | 11/22 | | なし | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 第19回九州分析化学若手の会春の講演会(2006.5.20、福岡大) | X線・電子線を用いた機能材料評価技術の新展開 |
302 | 11/22 | | "C01A16B2-4012N
C02A16B2-4018N" | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 日本分析化学会第38回X線分析討論会(2002.10.28-29、福岡大) | 高温熱処理過程における鋼中析出相のXRD、XAFS解析 |
303 | 11/22 | | "C01B16B2-4016N
C02B16B2-4020N
C03A16B2-4025N" | コベルコ科研 | 渡部 孝 | 日本分析化学会第39回X線分析討論会(2003.9.16-17、淡路島) | X線散漫散乱と反射率モードXAFSの組み合わせによる新しい表面構造解析 |
304 | 11/22 | | "C02A16B2-4007N
C02B16B2-4020N" | 神戸製鋼所 | 武田実佳子 | R&D神戸製鋼技報 vol.55 No.1(Apr.2005), pp.31-36 | 鉄鋼1次スケールの構造・密着性に及ぼすSi濃度の影響 |
305 | 11/28 | 9935 | 2005A-3130 | 三菱電機 | 河瀬 和雅 | "電子情報通信学会技術研究報告
106 (2006), SDM2006-176" | Desification of CVD-SiO2 film using Ozone Treatment |
306 | 11/28 | 10121 | 2005B-5131 | 三菱電機 | 上原 康 | "第42回X線分析討論会
(明大・生田学舎 2006/10/20-21) P20" | L特性X線を用いたタンタルおよびタングステン化合物の状態分析法の検討 |
307 | 11/28 | 10287 | 2005A-4130 | 三菱電機 | 上原 康 | "AVS (American Vacuum Society)
53rd International Symposium EMTh-P28
(2006/11/12-18, SanFrancisco) " | Local Structure Around Germanium Atoms in SiGe Thin Films. |