受付日	発表 形式	SB  No.	JASRI  No.	実験課題番号	題目	筆頭者氏名
					発表先 [日付]	会社名
2/12	11	521	22885	2012A5352	高温還元雰囲気下におけるセリアの結晶相と酸素空孔量のin situ測定	古川剛史
					第38回固体イオニクス討論会	関西電力（株） （京大）
2/12	11	520	22887	2012A5352	高温還元処理や通電処理によるセリア系酸化物の酸素空孔量と結晶相変化の評価	古川剛史
					第21回SOFC研究発表会	関西電力（株） （京大）
11/28	9	519	20304	2010B5311	系統連系円滑化用途におけるNi-MH電池の性能評価	中山耕輔
					第52回電池討論会[2011/10/19]	川崎重工業��
11/28	11	518	22077	2007B5010,2008A5010, 2008B5010,2009B5010, 2010A5010	X線回折手法を利用したガスタービン用ニッケル基超耐熱合金のクリープ損傷評価	井頭賢一郎
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.95 [2012/3]	川崎重工業��
11/28	11	517	22078	2010A5311,2010B5311 2011A5311	Performance of Ni-MH Batteries with Pretreated Positive Electrodes	中山耕輔
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.99 [2012/3]	川崎重工業��
11/28	9	516	22562	2011A5310	貴金属担持各種酸化物排ガス浄化触媒の劣化機構に関する検討	清瀧元
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	川崎重工業��
11/28	9	515	22564	2011A5010	炭素繊維の回折光を利用したFRPの応力評価	井頭賢一郎
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	川崎重工業��
11/28	1	514	22552	2006A5330, 2006B5330, 2007A5330, 2007B1922, 2008A1919, 2008B5330	タングステンめっき用溶融塩浴中のタングステンイオンのその場状態解析	飯原順次
					サンビーム年報・成果集 1 (2010) 85-87 [2012/3]	住友電工
11/28	1	513	22553	C03B-4003, C04A4030,  C04B-4030, C05A4030,  2005B0799, 2009A1916	光増幅器用Er添加SiO2ファイバの構造解析	斎藤吉広
					サンビーム年報・成果集 1 (2010) 88-91 [2012/3]	住友電工
11/28	9	512	22554	2011A5330, 2011B5030	斜出射XAFS法による埋もれた界面の状態分析	飯原順次
					X線分析討論会 [2011/10/28,29]	住友電工
11/28	9	511	22555	2010A5330, 2010A1707, 2009B2050, 2008B2008,  2010B5330	環境製品、リサイクル技術開発のための放射光利用	飯原順次
					佐賀LS研究発表会 [2011/7/11]	住友電工
11/28	9	510	22556	2008B2008, 2009A5330,  2009B2050, 2009B1800,  2010A5330, 2010A1707, 2010B5330	環境製品、リサイクル技術開発のための放射光利用	飯原順次
					サンビーム研究発表会 [2011/9/8,9]	住友電工
11/28	9	509	22557	2008B2008,  2009A5330,  2009B2050, 2009B1800,  2010A5330, 2010A1707,  2010B5330, 2012A5330	低環境負荷タングステンリサイクル技術開発	飯原順次
					サンビーム研究発表会 [2012/09/06,07]	住友電工
11/28	9	508	22558	C03B-4003, C04A4030,  C04B-4030, C05A4030,  2005B0799, 2009A1916	光ファイバ材料のXAFS法による構造解析	飯原順次
					ガラス・セラミックス研究会 [2010/08/27]	住友電工
11/5	1	409	21009	2009A5130, 2009B5130	Densification of Chemical Vapor Deposition Silicon Dioxide Film Using Oxygen Radical Oxidation	河瀬　和雅
					Journal of Applied Physics, 111, (2012) 034101	三菱電機
11/5	11	507	22334	2009A5130, 2009B5130	X線反射率測定によるOラジカル改質されたCVD-SiO[sbsc]2[/sbsc]膜の評価	河瀬　和雅
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会)　[2011.09.08-09.09]  Kobe, Japan	三菱電機
11/5	3	506	22333	2009A5130, 2009B5130	X-ray Reflectivity Study of Chemical Vapor Deposition Silicon Dioxide Film Densified with Ozone Gas	河瀬　和雅
					サンビーム年報・成果集 Vol.1. 2011, p.24 (2012).	三菱電機
11/5	11	368	17792	2010A5130，2010B5130	Thermal Conductivity and Higher Order Structure of Liquid Crystalline Asymmetric Epoxy Thermosets.	中村　彰宏
					高分子討論会　[2011.09.28-09.30] Okayama, Japan	三菱電機（東工大）
11/5	11	505	22335	2011B5131	Structural Analysis of the ZnO Thin Film by Using Grazing Incidence X-Ray Diffraction	本谷　宗
					秋季　応用物理学会学術講演会 [2012.09.11-09.14] Matsuyama, Japan	三菱電機
11/5	11	504	22449	2011A5132	酸化亜鉛結晶薄膜のZn-K吸収端分光における偏光依存性評価	上原　康
					第47回X線分析討論会　[2011.10.28-10.29] Fukuoka,Japan	三菱電機
11/5	3	503	22466	2007B5430, 2008B5431, 2009B5430	XANESによる絶縁油と銅の反応解析	上原　康
					サンビーム年報・成果集 Vol.1. 2011, p.21 (2012).	三菱電機
11/5	11	502	22467	2007B5430, 2008B5431, 2009B5430	XANES study on corrosion of copper in insulation oil	上原　康
					第3回日英放射光産業利用ワークショップ [2012.05.21-05.23] Kobe, Japan	三菱電機
11/5	11	501	22468	2011A5132	酸化亜鉛結晶薄膜のZn-K吸収端分光における偏光依存性評価	上原　康
					第12回サンビーム研究発表会（第9回SPring-8産業利用報告会） [2012.09.06-09.07] Nagoya, Japan	三菱電機
11/5	11	500	22470	2011B5132	3d遷移金属の特性X線における結合状態・励起条件の影響評価	上原　康
					第48回X線分析討論会　[2012.10.31-11.02] Nagoya, Japan	三菱電機
11/5	11	499	9889	2005A0929, 2005B0992, 2005B5362	高エネルギーXPSによるクロメート膜の結合状態の評価	立部 哲也
					日本分析化学会　第67回分析化学討論会　講演要旨集, , (2006) 148	（株）東芝
11/5	10	498	13433	2006B5360, 2006A1636	放射光を用いた次世代半導体ゲート絶縁膜の評価	吉木 昌彦
					SAGA-LSナノテクセミナー　「ナノテクノロジーと放射光利用」 [2007.12.17]	（株）東芝
11/5	11	497	11407	2006B1599, 2006A1641, 2005B0232, 2006B5360	Media Technologies of 40 GB Dual-Layer Rewritable Phase-Change Recording for HD DVD System	中居 司
					European Phase Change and Ovonics Symposium 2007 (EPCOS2007) [2007.09.01-09.04]	（株）東芝
11/5	11	496	11164	2006B5360	XAFS Study of Phase-Change Recording Material using Actual Media	中居 司
					2007 Optical Data Storage Topical Meeting (ODS2007) [2007.05.20-05.23]	（株）東芝
11/5	1	495	10447	C03B4012, C04A4060, 2004B0493	Characterization of Amorphous High-k Thin Films by EXAFS and GIXS	竹村 モモ子
					AIP Conference Proceedings, 879, (2007) 1573-1576	（株）東芝
11/5	11	494	13938	2006A5060	High-sensitivity EXAFS Investigation of Arsenic Shallow Implant in Silicon	山崎 英之
					19th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (2007) [2007.09.16-09.21]	（株）東芝
11/5	11	493	13937	2006A5060	アンジュレータ光源利用蛍光収量XAFS法によるSi中Asの局所状態解析	山崎 英之
					第68回 分析化学討論会 [2007.05.19.-05.20]	（株）東芝
11/5	11	492	11731	2006B5060	High-sensitivity EXAFS Investigation of Arsenic Shallow Implant in Silicon	山崎 英之
					9th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM 2007) [2007.09.16-09.21]	（株）東芝
11/5	6	491	11571	2006B1599, 2006B5360	XAFS and HX-PES Analysis of Phase-Change Recording Material using Actual Media	中居 司
					Proceedings of SPIE, 6670, (2007) 66202C	（株）東芝
11/5	1	490	16417	2005B0232, 2006A1641, 2006B1599, 2007A1908, 2007A5360	Local Structure Analysis and Interface Layer Effect of Phase-Change Recording Material Using Actual Media	中居 司
					Japanese Journal of Applied Physics, 47, (2008) 5770-5776	（株）東芝
11/5	11	489	13939	2006B5060	FEFFによる半導体材料のEXAFS解析	山崎 英之
					第11回XAFS討論会 [2008.08.06-08.08]	（株）東芝
11/5	10	488	22341	2008A5360, 2008B5360	先端LSI開発における放射光利用分析	吉木 昌彦
					シンクロトロン光利用者研究会 [2009.07.23]	（株）東芝
11/5	1	487	20247	2005B5060, 2006A5060, 2006B5060, 2007A5060	High-sensitivity X-ray Absorption Fine Structure Investigation of Arsenic Shallow Implant in Silicon	山崎 英之
					Spectrochimica Acta Part B, 64, (2009) 808-811	（株）東芝
11/5	11	486	22343	2008B5360	サンビームのXAFS装置	吉木 昌彦
					サンビーム研究発表会 [2010.11.04-11.05]	（株）東芝
11/5	11	485	22393	2009B5360	XAFSによる工業材料中六価クロムの定量分析	沖 充浩
					サンビーム研究発表会 [2010.11.04]	（株）東芝
11/5	11	484	22399	2010B5360, 2010A5360	Chemical Specification of Arsenic in Glass by ICP-MS and XAFS	盛本 さやか
					IUPAC International Congress on Analytical Sciences 2011 (ICAS 2011) [2011.05.22-05.26]	（株）東芝
11/5	11	483	22390	2010B5361	XAFS を用いた工業材料中に含まれる環境規制物質の価数評価	沖 充浩
					サンビーム研究発表会 [2011.09.08]	（株）東芝
11/5	11	482	22428	2010B5060	半導体デバイスのCTR分析	高石 理一郎
					サンビーム研究発表会 [2011.09.08-09.09]	（株）東芝
11/5	11	481	21237	2011A5360, 2011B5360	Approach to REACH/SVHC Analysis:Chemical Specification of Arsenic in Industrial Samples by XAFS and ICP-MS	盛本 さやか
					PITTCON 2012 [2012.03.11-03.15]	（株）東芝
11/5	11	480	22344	2011B5360, 2012A5360	低温全反射XAFSによる絶縁薄膜の局所構造解析	吉木 昌彦
					サンビーム研究発表会 [2012.09.06-09.07]	（株）東芝
11/5	11	479	22392	2011B5360	Application of X-ray Absorption Fine Structure Method for the Quantitative Analysis of Hexavalent Chromium in Electronic Products	沖 充浩
					Electronics Goes Green [2012.09.09-09.12]	（株）東芝
11/5	3	478	22427	2010B5060	半導体デバイスのCrystal Truncation Rod分析	高石 理一郎
					サンビーム年報・成果集, 1, (2012) 65	（株）東芝
11/5	3	477	22438	2010B5360	XAFSによる工業材料中六価クロムの定量分析	沖 充浩
					サンビーム年報・成果集, 1, (2012) 62	（株）東芝
11/5	12	476	22439	2011B5360	東芝、六価クロム含有量を高精度分析	沖 充浩
					日経産業新聞 (Nikkei Business Daily), 9月4日, (2012)	（株）東芝
11/5	3	475	22355	2010B5090	Micro XAFS Measurements of Lithium-ion Secondary Battery Material	浅田　敏広
					SUNBEAM Annual Report with Research Results  1 (2011) 48	(株)日産アーク
11/5	3	474	22437	2012A5392	In situ XAFSと第一原理計算による Liイオン電池充放電挙動の解析	茂木　昌都
					第9回　SPring-8産業利用発表会 [2012/9/6〜7]	(株)日産アーク
11/2	9	473	22351	2009B5370, 2010A5372, 2010A1709, 2010B7012, 2011A7012	セラミックス板の内部応力の計測	木村英彦
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	(株)豊田中央研究所
11/2	9	472	22331	2010B5070, 2011A5071, 2011B5070	重水素透過後におけるPd基板のXRF分析	高橋直子
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	�竃L田中央研究所
11/2	1	471	22332	2010B5070, 2011A5071, 2011B5070	重水素透過後におけるPd基板のXRF分析	高橋直子
					サンビーム年報2011	�竃L田中央研究所
11/2	1	470	22425	2008B5370	排ガス浄化触媒の in situ XAFS 解析	堂前 和彦
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.58 [2012/3]	(株)豊田中央研究所
11/2	1	469	22,426	2009B5071, 2010A5071, 2010B5072	円偏光を用いたNd2Fe14B磁石の磁気特性評価	野崎　洋
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.60 [2012/3]	(株)豊田中央研究所
11/2	11	468	22354	2010B5420	リチウムイオン電池用ＬiＮｉＯ２系正極材料のＸＡＦＳ測定	神前　隆
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	パナソニック
11/2	1	467	22352	2010B5420	リチウムイオン電池用LiNiO2系正極材料のXAFS測定	神前　隆
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.45-p.47 [2012/3]	パナソニック
11/2	1	466	22353	2010B5120	リチウムイオン電池正極における面内結晶性評価	神前　隆
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.41-p.44 [2012/3]	パナソニック
11/2	1	465	22409	2010A5350,2010B5350            2011A5351,2011B5350	Development of Advanced Analytical Technology Using SPring-8 - Analysis of Trace Element and Quick XAFS Measurement	山本　融
					電力中央研究所報告 研究報告 (Research Report of Central Research Institute of Electric Power Industry) 巻M11012 号発行年2012 頁1-12	（一財）電力中央研究所
11/2	9	464	21940	2010A5350,2010B5350            2011A5351	Evaluation of exhaust gas purification technology by XAFS	栃原義久
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	（一財）電力中央研究所
11/2	1	463	22408	2006A5051,2006B5351               2007A5351,2007B5353	Identification of Trace Metal Element Using Fluorescence XAFS Measurement	山本　融
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.78 [2012/3]	（一財）電力中央研究所
11/2	1	462	22412	2009A5050,2009A5350            2010A5350,2011B5351	Measurement of Gaseous Selenium in combustion flue gases	野田直希
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.76 [2012/3]	（一財）電力中央研究所
11/2	1	461	22389	2006B5351,2007A5051        2007B5350,2008A5350	Reaction Analysis of Trace Metal Element in a Solution Using in situ XAFS Measurement	秋保広幸
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.72 [2012/3]	（一財）電力中央研究所
11/2	1	460	22036	2006B5352,2007A5350               2007B5352,2008A5352	Defect investigation in 4H-SiC epitaxal layere by X-ray topography	鎌田功穂
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.74 [2012/3]	（一財）電力中央研究所
11/2	8	459	21511	2005B5352,2006A5352              2006B5351,2007A5353	Application of Synchrotron Radiation X-ray to Research of Fuel Cell Material	山本　融
					第46回技術討論会・テキスト「電池の製造と研究開発に貢献する粉体工学」（2011）75-83	（一財）電力中央研究所
11/2	1	458	21512	2005B5352,2006A5352              2006B5351,2007A5353	Application of Synchrotron Radiation X-ray to Research of Fuel Cell Material	山本　融
					粉体工学会誌 (Journal of the Society of Powder Technology Japan) 48,(2011)403-411	（一財）電力中央研究所
11/2	1	457	22345	2010B5341, 2011A5342	酸化物半導体In2O3:Snの局所構造と電気伝導特性	細井　慎
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.82-84 [2012/3]	ソニー（株）
11/2	9	456	22347	2010B5340, 2011A5340, 2011B5340	RuPtコアシェルナノ粒子のXAFS解析	細井　慎
					第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6,7]	ソニー（株）
11/2	1	455	22346	2009A5040,2009B5040	有機半導体薄膜のX線回折評価	越谷　直樹
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.80-81 [2012/3]	ソニー（株）
11/2	9	454	22348	2010A5040	ペンタセン結晶薄膜のX線回折法による構造評価	越谷　直樹
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	ソニー（株）
11/2	9	453	22349	2011A5040、2011B5040	有機半導体薄膜のX線回折法による構造評価	越谷　直樹
					第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6,7]	ソニー（株）
11/2	9	452	22372	2007A5340	リチウムイオン二次電池Sn系負極活物質のXAFS解析	工藤　喜弘
					第8回サンビーム研究発表会(第5回SPring-8産業利用報告会) [2008/9/18, 19]	ソニー（株）
11/2	9	451	22373	2008A5340	リチウムイオン二次電池Co/Sn薄膜負極のXAFS解析	工藤　喜弘
					第9回サンビーム研究発表会(第6回SPring-8産業利用報告会) [2009/9/3, 4]	ソニー（株）
11/2	9	450	22374	2009A5040	ペンタセン薄膜のX線回折法による構造解析	越谷　直樹
					第10回サンビーム研究発表会(第7回SPring-8産業利用報告会) [2010/11/4, 5]	ソニー（株）
11/2	9	449	22,361	2009B5400, 2010B,5400, 2010B5100, 2011B5100	XASによるリチウム電池正極材の価数分布評価	平野　辰己
					第9回SPring-8産業利用報告会[2012/09/06-09/07]	(株)日立製作所 日立研究所
11/2	9	448	22,297	2011A5100, 2011B5100	Environmental Hardness of Pt-Ti-O gate Si-MISFETs Hydrogen Gas Sensors from Siloxane, Humidity and Radiation	宇佐川　利幸
					IMCS2012 The 14th International Meeting on Chemical Sensors [2012/05/20]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	1	447	22,298	2011A5100, 2011B5100	Environmental Hardness of Pt-Ti-O gate Si-MISFET Hydrogen Gas Sensors from Siloxane, Humidity, and Radiation	宇佐川　利幸
					IMCS2012 The 14th International Meeting on Chemical Sensors [2012/05/20]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	8	446	22,299	2008A5100, 2009B5100, 2010A5100, 2011B5100	硬X線磁気顕微鏡によるネオジム磁石の元素識別・顕微観察	上田　和浩
					SPring-8利用推進協議会　先端磁性材料研究会研究会（第５回)[2012/01/20]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	445	22,301	2010B5100	Ｘ線反射率法による微小領域計測と異常分散利用Ｘ線反射率解析の可能性	上田　和浩
					「薄膜・多層膜の埋もれた界面の解析・ 高度な量子ビーム源による新しい研究の方向性」研究会[2012/06/28]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	8	444	22,302	2010B5100	Application of X-ray Reflectivity: Analysis of Magnetic Film Stack Structure	上田　和浩
					61th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis: Denver X-ray Conference[2012/08/06]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	443	22,306	2010B5100	サブミクロン集光X線を利用したX線反射率計の開発	上田　和浩
					第25回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム[2012/01/07]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	442	22,305	2010A5100, 2010B5100, 2011A5100, 2011B5100	マイクロビーム走査型X線顕微鏡による肝細胞の観察	米山　明男
					第9回SPring-8産業利用報告会[2012/09/06-09/07]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	441	22,307	2008A5100, 2009B5100, 2010A5100	Development of Hard X-ray Magnetic Circular Dichroism Microscope and its Application to the NdFeB Magnet	南部　英
					The 6th International Symposium on Surface Science (2011)[2011/12/15]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	1	440	22,365	2008B5100, 2009A5100, 2009B5100, 2010A5100, 2010B5100, 2011A5100,	マイクロビーム走査型高速蛍光X線顕微鏡の開発	米山　明男
					サンビーム年報・成果集vol.1, 2011, p38[2012/03]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	439	22,363	2008B5100, 2009A5100, 2009B5100, 2010A5100, 2010B5100, 2011A5100,	マイクロビーム走査型高速蛍光X線顕微鏡の開発	米山　明男
					第8回SPring-8産業利用報告会[2011/09/08-09/09]	(株)日立製作所 中央研究所
11/2	9	438	22,366	2010A5100, 2010B5100, 2011A5100, 2011B5100	放射線・熱劣化を受けたポリマ中の酸化防止剤の挙動解析	山崎　孝則
					第8回SPring-8産業利用報告会[2011/09/08-09/09]	日立電線（株）
11/2	9	437	22396	2010A5020, 2011A5020	In-situ XRDによる鋼板の高温酸化挙動の観察	北原　周
					サンビーム年報・成果集 (SUNBEAM Annual Report with Research Results) 134-135, Vol.1 (2011)	�潟Rベルコ科研
11/2	9	436	22400	2010A5020	X線回折によるSi添加鋼の高温酸化挙動の観察	北原　周
					サンビーム年報・成果集 (SUNBEAM Annual Report with Research Results) 92-94, Vol.1 (2011)	�潟Rベルコ科研
11/2	11	435	22398	2009B5320, 2009B5020 2010A5020, 2011A5020	放射光を用いたスケール生成挙動のin-situ XRD分析技術の開発	早川 敬済
					日本金属学会　秋期大会 [2011.11.07-11.09]	�潟Rベルコ科研
11/2	11	434	22401	2011A5020,2011B5020	鋼の初期酸化挙動に対する酸素濃度の影響	中久保 昌平
					日本金属学会　秋期大会 [2012.09.17-09.19]	�叶_戸製鋼所
11/2	9	433	22397	2009A1482, 2012A5020	小角散乱法による金属ナノ粒子の評価	北原　周
					第12回サンビーム研究発表会（第9回産業利用報告会） [2012.09.06-09.07]	�潟Rベルコ科研
11/2	11	432	20264	2007A5310	高エネルギーX線回折による鋼板の評価	北原　周
					X線分析討論会 [2008.10.18-10.19 ]	�潟Rベルコ科研
11/2	11	431	20265	2008A5320	In-situ XRDによる引張試験中の鋼板の構造解析	北原　周
					日本金属学会　春期大会 [2009.03.28-03.30 ]	�潟Rベルコ科研
10/30	1	430	20466	2008B5050,2009B5050, 2010B5050	Hydration structure around CO2 captured in aqueous amine solutions observed by high energy X-ray scattering	出口博史
					International Journal of Greenhouse Gas Control 5 (2011) 1533–1539.	関西電力（株）
10/30	7	429	21175	2010A5351	メタンを利用する脱硝触媒の高性能化	渡邊恒典
					R&D News Kansai, Vol.：467 (2012)16-17.	関西電力（株）
10/30	1	428	21930	2010B5050	Ｘ線散乱による水酸化カリウム水溶液中の炭酸イオンの構造解析	出口博史
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p. 67 [2012/3]	関西電力（株）
10/30	1	427	21931	2008B5050, 2009B1299, 2009B5050, 2010B5050	銅・亜鉛系触媒に添加した微量Gaの化学状態解析	出口博史
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p. 69 [2012/3]	関西電力（株）
10/30	7	426	21932	2008B5050, 2009B1299, 2009B5050, 2010B5050	大型放射光施設”SPring-8”を用いたCO2化学吸収液の構造解析	出口博史
					R&D News Kansai, Vol.：469 (2012)14-15.	関西電力（株）
10/30	12	425		2008B5050,2009B5050, 2010B5050	CO2化学吸収液の構造解析	出口博史
					電気新聞　H24年6月28日	関西電力（株）
10/30	9	424	19985	2010A5351	還元ガス処理を行ったガリウム−アルミニウム複合酸化物触媒における活性点のXAFS解析	渡邊恒典
					第１１回サンビーム研究発表会（第８回SPring-8産業利用報告会）[2011/9/8,9]	関西電力（株）
10/30	9	423	22338	2011B5050, 2010B1255	二酸化炭素吸収液用アルカノールアミン分子の配座解析	出口博史
					第１２回サンビーム研究発表会（第９回SPring-8産業利用報告会）[2012/9/6,7]	関西電力（株）
10/29	1	422	22277	2010A5081 2010B5080 2011A5080	放射光マイクロビームX線を用いた蛍光体フリー白色LEDの評価	榊　篤史
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.52 [2012/3]	日亜化学工業（株）
10/29	1	421	22276	2009A5380 2009B5381 2010A5380 2010B5380	in-situ XAFS/XRD測定によるLi二次電池正極材料の構造解析	吉田　泰弘
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.55 [2012/3]	日亜化学工業（株）
10/29	9	420	22279	2011A5380	XAFSによるLiイオン二次電池正極材料の局所構造解析	吉田　泰弘
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	日亜化学工業（株）
10/29	9	419	22359	2011A5110,2011B5110 2012A5110,2012A1735	微小角入射X線回折による有機薄膜太陽電池の構造評価	土井修一
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6,7]	(株)富士通研究所
10/29	9	418	22360	2011B5110	富士通研究所におけるSPring-8放射光の利用	淡路直樹
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6,7]	(株)富士通研究所
10/10	1	417	22264	2008A1513,2009A1840 2009B1844,2009B5110 2010A1744	Development of X-ray Fourier transform holography technique for investigation of nanoscale materials	淡路直樹
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.28 [2012/3]	(株)富士通研究所
10/10	9	416	22266	2010A5110,2010A1744 2011A5110	フーリエ変換ホログラフィー法によるin-situナノイメージング	淡路直樹
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	(株)富士通研究所
10/10	1	415	22261	2009A5410,2010B5410 2011A5410	新規光触媒TiアパタイトのXAFSによる局所構造評価	野村健二
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.35 [2012/3]	(株)富士通研究所
10/10	9	414	22265	2009A5410,2010B5410 2011A5410	新規光触媒TiアパタイトのXAFSによる局所構造評価	野村健二
					第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8,9]	(株)富士通研究所
10/10	1	413	22263	2008A5110, 2008B5110 2009A5110, 2008A1812 2008B1923	X線反射率によるMnIr/CoFe交換結合膜の構造解析	土井修一
					サンビーム年報・成果集 vol.1,2011,p.32 [2012/3]	(株)富士通研究所
10/10	9	412			Management of SUNBEAM consortium and the Recent Activity on the Research	淡路直樹
					第3回日英放射光産業利用ワークショップ　[2012/5/22]	(株)富士通研究所
10/10	9	411			サンビーム共同体BL16XU,BL16B2の利用状況	淡路直樹
					SPring-8シンポジウム2012 [2012/8/26]	(株)富士通研究所