説明：
1)発表形式欄：以下の番号から選択してください。
　　　（説明セツメイ）No.1-11はSPring-8論文発表等登録の発表形式通知ツウチ番号バンゴウに対応します。
　　　（注チュウ）プルダウンメニューの位置イチと形式ケイシキ番号バンゴウは必カナラずしも対応タイオウはしていません。
　　　No.12は従来のサンビーム・プレス発表を追加ツイカしています。
    　サンビーム年報ネンポウ・成果セイカ集シュウpart2は形式ケイシキ1：査読サドク付ツプロシーディングスとして登録トウロクしてください。
　　　サンビーム研究発表会は形式ケイシキ9：口頭コウトウ/ポスター発表ハッピョウとして登録トウロクしてください。
　　　発表ハッピョウ先サキは「リスト表示ヒョウジ」「JP」「サンビーム年報・成果集」を選エラんでください。
  1：原著論文／博士論文／査読付きプロシーディングス（サンビーム年報・成果集part2を含フクむ）
　2：総説
　3：査読なしプロシーディングス
　4：単行本
　5：賞
　7：その他の出版物
　8：招待講演
　9：口頭／ポスター発表（サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウ会カイを含フクむ）
　10：SPring-8利用研究成果集
　11：公開コウカイ技術ギジュツ報告ホウコク書ショ
　12：プレス発表／取材（新聞、テレビ、雑誌等々マスコミ関係取材）
2) JASRI No.欄にはSPring-8論文登録の登録番号を記載してください。(先にＪＡＳＲＩ登録を済ませる必要があります。)
3) 関係課題番号は複数課題の記載も可能です。ＢＬ16利用課題が無い場合、課題番号欄は空欄で結構です。
4) 水色の欄には記入しないでください。
5） 行数が不足であれば適宜増やしてください。
6) 年報ネンポウ・成果セイカ集シュウの編集ヘンシュウ時ジに印刷インサツ形式ケイシキを修正シュウセイさせていただくことがあります。
発表ハッピョウ登録トウロクフォーマット（例レイ）
受付日ウケツケビ 発表
形式		 SB
 No.		 JASRI
 No.		 実験ジッケン課題番号 題目 筆頭者ヒットウシャ氏名シメイ
発表先 [日ヒ付ヅケ] 会社名
5/13 11 558 22108 2012A5070 Detection of Pr in Cs Ion-implanted Pd/CaO Multilayer Complexes with and without D2 Gas Permeation 高橋直子
The 17th International Conference on Cold Fusion [2012/8/12-17] (株)カブ豊田中央研究所
5/10 1 557 23648 2012A5330, 2010B5330,
2010A5330, 2010A1707,
2009B2050, 2008B2008		 タングステンリサイクル技術開発のための放射光利用分析 飯原イイハラ順次ジュンジ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.25 [2013/3] 住友電気工業スミトモデンキコウギョウ(株カブ)
5/10 1 556 23649 2012A5030, 2011B5030,
2011A5330		 斜出射XAFS法による材料表面および界面の化学状態解析 飯原イイハラ順次ジュンジ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.29 [2013/3] 住友電気工業スミトモデンキコウギョウ(株カブ)
5/10 9 555 23651 2012B5030 CdTe検出器を用いた高エネルギーX線回折 飯原イイハラ順次ジュンジ
第ダイ60回カイ応用物理学会オウヨウブツリガッカイ春季シュンキ学術講演会ガクジュツコウエンカイ[2013/3/29] 住友電気工業スミトモデンキコウギョウ(株カブ)
5/10 8 554 23652 2012A5330, 2010B5330,
2010A5330, 2010A1707,
2009B2050, 2008B2008		 レアメタルの低環境負荷リサイクル技術の開発  飯原イイハラ順次ジュンジ
SPring-8施設シセツ公開コウカイ科学カガク講演会コウエンカイ  [2013/4/27] 住友電気工業スミトモデンキコウギョウ(株カブ)
5/10 3 553 23547 2011A5072, 2011B5071 マイクロX線回折による全固体リチウムイオン電池の界面解析 太田慎吾
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.54-55[2013/3]  (株)カブ豊田中央研究所
5/10 11 552 23644 2011A5071, 2011B5070 波長分散法によるPd中不純物の蛍光X線分析 小坂悟
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会)[2012/9/6, 7] (株)カブ豊田中央研究所
5/10 11 551 23643 2011B5371 放射光CTによるパワーモジュール内部変形計測 浅田崇史
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会)[2012/9/6, 7] (株)カブ豊田中央研究所
5/10 3 550 23642 2011B5371 放射光CTを用いたパワーモジュール内部ひずみ分布計測 浅田崇史
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.52-53[2013/3] (株)カブ豊田中央研究所
5/10 1 549 16840 2008A5371 A Periodic Mesoporous Organosilica-Based Donor-Acceptor System for Photocatalytic Hydrogen Evolution 大橋雅卓
Chemistry - A European Journal
15, 47, (2009) pp.13041-13046 ]		 (株)カブ豊田中央研究所
5/10 1 548 23645 2008B5070 Silicon Nanosheets and Their Self-Assembled Regular Stacking Structure 岡本浩孝
Journal of American Chemical Society, 132, 8,(2010), pp.2710-2718 (株)カブ豊田中央研究所
5/10 11 547 23646 2007B5371 2次元XAFS法を用いた二次電池材料の価数分布評価 山口聡
第9回サンビーム研究発表会(第6回SPring-8産業利用報告会)[2009/9/3, 4] (株)カブ豊田中央研究所
4/26 1 546 23586 2006B5060, 2007A5060, 2008B5060 Direct observation of local atomic structure in arsenic implanted silicon 山崎ヤマザキ 英之ヒデユキ
Materials Science in Semiconductor Processing, 15(6), (2012) 707-712 （株）カブ東芝トウシバ
4/26 1 545 23587 2011A5060, 2011B5060,
2012A5060		 半導体デバイスの応力分析 吉木ヨシキ 昌彦マサヒコ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.50-51 [2013/3] （株）カブ東芝トウシバ
4/26 1 544 23585 2011B5360, 2012A5360 低温斜入射XAFSによる酸化物薄膜の局所構造解析 吉木ヨシキ 昌彦マサヒコ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.47-49 [2013/3] （株）カブ東芝トウシバ
11/5 11 480 22344 2011B5360, 2012A5360 低温全反射XAFSによる絶縁薄膜の局所構造解析 吉木ヨシキ 昌彦マサヒコ 再掲サイケイ
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会)[2012/9/6, 7] （株）カブ東芝トウシバ
4/26 9 543 23484 2007B5010, 2008A5010 X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断 井イ頭ガシラ賢一郎ケンイチロウ
第8回サンビーム研究発表会(第5回SPring-8産業利用報告会)[2008/9/18, 19] 川崎カワサキ重工ジュウコウ業ギョウ㈱
4/26 9 542 23495 2009A5310 モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明 清瀧　元
第9回サンビーム研究発表会(第6回SPring-8産業利用報告会)[2009/9/3, 4] 川崎重工業㈱
4/26 9 541 23500 2012A5310 XAFSを用いた系統連系用大型Ni-MH電池の材料評価 中山耕輔
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会)[2012/9/6, 7] 川崎重工業㈱
4/26 1 540 23498 2009A5010, 2009B5010,
2011A5010		 炭素繊維の回折光を利用したCFRPの応力評価 井イ頭ガシラ賢一郎ケンイチロウ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.19 [2013/3] 川崎カワサキ重工ジュウコウ業ギョウ㈱
4/26 9 539 22359 2011A5110, 2011B5110,
2012A5110, 2012A1735		 微小角入射X線回折による有機薄膜太陽電池の構造評価 土井ドイ修一シュウイチ
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6, 7] (株)富士通研究所
4/26 9 538 22360 2011B5410, 2012A5410 富士通研究所におけるSPring-8放射光の利用 淡路アワジ直樹ナオキ
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6, 7] (株)富士通研究所
4/26 1 537 23577 2011A5110, 2011B5110,
2012A5110, 2012A1735		 微小角入射X線回折による有機太陽電池の構造評価 土井ドイ修一シュウイチ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.95 [2013/3] (株)富士通研究所
4/26 1 536 23580 2011B5410, 2012A5410 新規光触媒TiCrドープ・ヒドロキシアパタイトのXANES評価 野村ノムラ健二ケンジ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.92 [2013/3] (株)富士通研究所
4/26 9 535 23582 2011B5410, 2012A5410 新規光触媒チタンアパタイトの特徴と構造評価 野村ノムラ健二ケンジ
SPring-8グリーンエネルギー研究会ケンキュウカイ [2012/11/15] (株)富士通研究所
4/17 1 534 23488 2011B5050, 2010B1255 二酸化炭素吸収液に用いられるアルカノールアミン分子の配座解析 出口デグチ　博史ヒロシ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.38-p.40 [2013/3] 関西電力カンサイデンリョク(株)カブ
4/17 1 533 23489 2011B5351, 2012A5350 石炭灰中の微量成分の化学状態分析 出口デグチ　博史ヒロシ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.41-p.42 [2013/3] 関西電力カンサイデンリョク(株)カブ
4/16 11 532 23476 2011B5120, 2011B5420 InGaN単一量子井戸構造における相分離の評価 平岩美央里
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6, 7] パナソニック(株カブ)
4/16 1 531 23477 2011B5120, 2012A5120 SR-XRDによるGaInN単一量子井戸構造の評価 平岩美央里
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.76-p.78 [2013/3] パナソニック(株カブ)
4/16 1 530 23478 2011B5420, 2012A5420 XAFSによるGaInN単一量子井戸構造のIn偏析の評価 平岩美央里
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.73-p.75 [2013/3] パナソニック(株カブ)
4/16 1 529 23479 2011B5121, 2012A5121 Liイオン電池正極材料のマイクロXAFS解析 岡野哲之
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.79-p.81 [2013/3] パナソニック(株カブ)
4/16 8 528 23468 2007B1829, 2007B1961,
2007A3222, 2007B3222,
2008A3222		 放射光を利用した窒化物光半導体の評価 榊サカキ　篤史アツシ
第131回結晶工学分科会研究会（2009）「結晶欠陥の評価でみえる窒化物半導体の進展」[2009/7/17] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 9 527 23470 2011A5081 二次元検出器を用いたLEDチップの残留応力評価 宮野ミヤノ　宗彦ムネヒコ
第12回サンビーム研究発表会(第9回SPring-8産業利用報告会) [2012/9/6, 7] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 1 526 23471 2011A5081, 2011B5080 二次元検出器を用いたLEDチップの残留応力評価 宮野ミヤノ　宗彦ムネヒコ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.60-p.63 [2013/3] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 1 525 23474 2011A5081, 2011B5080,
2012A5080		 X線マイクロビームによる低エネルギー蛍光X線組成分布測定法の開発 榊サカキ　篤史アツシ
サンビーム年報・成果集 vol.2,2012,p.56-p.59 [2013/3] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 9 524 23481 なし SPring-8サンビームIDにおけるX線マイクロビーム装置の活用 榊サカキ　篤史アツシ
春季　応用物理学関係連合講演会[2013/3/27-30] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 9 523 23482 なし サンビームのマイクロビーム装置 榊サカキ　篤史アツシ
第11回サンビーム研究発表会(第8回SPring-8産業利用報告会) [2011/9/8, 9] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)
4/16 9 522 23472 2009B5080 放射光マイクロX線による 蛍光体フリー白色LEDの評価 榊サカキ　篤史アツシ
第10回サンビーム研究発表会(第7回SPring-8産業利用報告会) [2010/11/4, 5] 日亜化学工業ニチアカガクコウギョウ(株カブ)