登録年度トウロクネンド 発表
形式
SB
 No.
JASRI
 No.
実験ジッケン課題番号 題目 筆頭者ヒットウシャ氏名シメイ
          発表先 [ヅケ] 会社名
2016 11 817 31145 2012A5010, 2012B5010
2013A5010
積層造形品の残留応力評価 日比野ヒビノ 真也
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.119-121 [2016/3] 川崎重工業(株)
2016 11 818 31146 2013B5310, 2014A5310
2014B5310, 2015A5310
ガス雰囲気変動下における三元触媒中の酸化セリウムの価数評価 松田マツダ 千明チアキ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.122-125 [2016/3] 川崎重工業(株)
2016 11 819 31373 2013A5320, 2013B5320
2014A5320, 2014B5320
XAFSとSANSを併用した鋼材表面の腐食過程の評価(2) 横溝ヨコミゾ シンサトシ
          サンビーム年報成果集 Vol.5 2015, p.115-118 [2016/3] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 11 820 31818 2013B5020, 2014A5020
2014B5020
Si添加鋼の加熱中のスケール生成挙動の観察 中久保 昌平
          サンビーム年報成果集 Vol.5 2015, p.112-114 [2016/3] (株)カフ神戸製鋼所
2016 1 821 32451 2006A5311, 2006B5311 Physical Properties of Iron-Oxide Scales on Si-Containing Steels at High Temperature  武田 実佳子
          Materials Transactions, Vol. 50, No. 9 (2009) pp. 2242 to 2246 (株)カフ神戸製鋼所
2016 1 822 32444 2005B5311, 2006A5311
2006B5311, 2009A5321
鉄鋼材料製造過程に生成するスケールの性状と高温物性に関する研究 武田 実佳子
          博士ハクシ論文ロンブン大阪オオサカ大学ダイガク工学コウガク研究科ケンキュウカ)[2010/03]2010-03-23 (株)カフ神戸製鋼所
2016 11 823 31063 2013B5330, 2014A5330
2014B5030
非晶質IGZO膜の構造解析 飯原 順次
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.108-111 [2016/3] 住友電気工業(株)
2016 11 824 31064 2014A5030 X線散乱による非晶質炭素材料の構造解析 斎藤 吉広
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.104-107 [2016/3] 住友電気工業(株)
2016 1 825 31701 2013B1568, 2015A5330 A High Temperature Reduction Cleaning (HTRC) Process: a Novel Method for Conductivity Recovery of Yttrium-Doped Barium Zirconate Electrolytes Han Donglin
          J. Mater. Chem. A 4 (2016) 10601-10608 [2016/6] 住友電気工業(株)(Kyoto University)
2016 11 826 31913 2012A5340, 2012B5340
2013A5340
Ruコア/Ptシェル触媒ショクバイナノ粒子リュウシにおける粒子リュウシサイズ効果コウカ 後藤ゴトウ 習志シュウジ
          サンビーム年報・成果集, Vol.5 2015, p.97-99 [2016/3] ソニー(カブ)
2016 11 827 31914 2013A5340, 2013B5340 Snケイナノ粒子リュウシ電気デンキ化学的カガクテキin situ XAFS測定ソクテイ 細井ホソイ シズカ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.100-103 [2016/3] ソニー(カブ)
2016 11 828 31119 2013B5060 強誘電性Hf(Si)O膜の構造解析 高石タカイシ 理一郎リイチロウ
          サンビーム年報・成果集 Vol5 2015, p.80-82 [2016/3] (株)カブ東芝トウシバ
2016 11 829 31939 2014A5060, 2014B5060
2015A5060, 2015B5060
硬X線光電子分光法によるゲルマニウムスズ薄膜結晶の深さ方向状態評価 臼田ウスダ 宏治コウジ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.83-86 [2016/3] (株)カブ東芝トウシバ
2016 11 830 32018 2012A5360, 2013A5360
2013B5360, 2014A5360
2014B5360
ガラス中アンチモンの価数評価手法の開発 オキ 充浩ミツヒロ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.87-89 [2016/3] (株)カブ東芝トウシバ
2016 1 831 31827 2013A5350, 2013B5350
2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
XAFS Speciation Study of Selenium Compounds with Different Oxidation State in Soil and Combustion Ash  山本ヤマモト トオル
          紛体フンタイ工学コウガクカイ(Journal of the Society of Powder technology,Japan),53,(2016)142-148 イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 11 832 31828 2013A5350, 2013B5350
2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
XAFS Study of Trace Element-XAFS Analysis by using of BCLA 山本ヤマモト トオル
          電力中央研究所報告 研究報告 (Research Report of Central Research Institute of Electric Power Industry) ,(2016),M15003 イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 11 833 31909 2012B5320, 2013A5350
2013B5350, 2014A5350
2014B5350
XAFSによる微量ビリョウ水銀スイギン化学カガク形態ケイタイ分析ブンセキホウ 山本ヤマモト トオル
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.93-96 [2016/3] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 11 834 32066 2013A5050, 2013B5050
2014A5050, 2014B5050
Williamson Hall法によるガスタービン動翼用Ni基超合金のクリープ損傷評価 向井ムカイ 康博ヤスヒロ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.90-92 [2016/3] 関西カンサイ電力デンリョクカブ
2016 1 835 32067 2013A5050, 2013B5050
2014A5050, 2014B5050
CREEP DAMAGE EVALUATION OF Ni-BASE SUPERALLOY BASED ON X-RAY DIFFRACTION LINE BROADENING 向井ムカイ 康博ヤスヒロ
          High-Temperature Materials Technology for Sustainable and Reliable Power Engineering Proceedings, pp.210-213 関西カンサイ電力デンリョクカブ
2016 1 836 32068 2013A5050, 2013B5050
2014A5050, 2014B5050
X-ray diffraction study on inelastic deformation behavior of Ni-base single crystal superalloy 向井ムカイ 康博ヤスヒロ
          Procedia Structural Integrity, Volume 2, 2016, Pages 895–902 関西カンサイ電力デンリョクカブ
2016 1 837 30388 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
Formation of Helical Dislocation in Ammonothermal GaN Substrate by Heat Treatment ホリフチ 嘉代カヨ
          Semicond. Sci. Technol. 31 (2016) 034002 (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 11 838 31516 2008A5071, 2009B5072
2010B5070, 2011A5071
2011B5070, 2012A5070
Detection of Pr in Cs Ion-implanted Pd/CaO Multilayer Complexes with and without D2 Gas Permeation 高橋タカハシ 直子ナオコ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.71-75 [2016/3] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 11 839 30961 2013B5070, 2014A5072
2014B5072
微小ビショウカク入射ニュウシャXセン散乱サンラン(GIXS)によるDLCマク構造コウゾウ解析カイセキ 伊関イセキ タカシ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.76-79 [2016/3] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 1 840 31207 2012A5371, 2013A5370
2014A5370, 2014B5371
Trials of Solution Growth of Dislocation-Free 4H-SiC Bulk Crystals ダン 克典カツノリ
          Materials Science Forum
858 (2016) p.19-22
トヨタ自動車ジドウシャ(株)
2016 11 841 31128 2013B5380, 2014A5380
2014B5380
偏光XAFS及びFEFFを用いたInGaN結晶のIn分布可視化 吉成ヨシナリ 篤史アツシ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.67-70 [2016/3] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 11 842 31873 2014A5080, 2014B5080
2015A5080
放射光マイクロビームX線による高効率LED発光層の評価 サカキ 篤史アツシ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.63-66 [2016/3] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 1 843 31296 2012A5390, 2012B5391 In situ X-Ray Absorption Fine Structure Analysis of PtCo, PtCu and PtNi Alloy Electrocatalyst-The origin for Enhanced Activity of Oxygen Reduction Reaction-  垣内 孝宏
          J. Phys. Chem. C, 2016, 120 (21), pp 11519–11527 日産自動車(株)
2016 1 844 30289 2014A5090, 2014B5390
2013A1234, 2014A1558
2014B1015, 2015A1704
2014B1594
Impact of FEC Additive on SEI Structure Formed on a Carbon Negative Electrode Studied by HAXPES 松本 匡史
          ECS Trans. 2015   Volume 69,  issue 21,  13-25  (株)日産アーク
2016 1 845 32274 2012A5392, 2012A5090 2012B5392, 2012B5392 2013A5091, 2013A5392 2013B5090, 2013B5391 2013B5392, 2014A5091 2014A5392, 2014B5092 A valence state evaluation of a positive electrode material in a Li-ion battery with first-principles K- and L-edge XANES spectral simulations and resonance photoelectron spectroscopy 久保クボフチ ケイ
          J. Appl. Phys. 120, 142125 (2016) (株)日産アーク
2016 1 846 32441 2013A5392, 2013B5391
2014A5391, 2014B5390
2014B5391
Platinum−Iron−Nickel Trimetallic Catalyst with Superlattice Structure for Enhanced Oxygen Reduction Activity and Durability 黒木 秀記
          Ind. Eng. Chem. Res. 2016, 55, 11458−11466  (公財)神奈川科学技術アカデミー(日産ニッサンGr)
2016 11 847 30997 2013A5090, 2014B5090 In situ XRDをモチいた銃砲ジュウホウ電柱デンチュウのSiO/C電極デンキョクにおけるカクカツ物質ブッシツ反応ハンノウ挙動キョドウ解析カイセキ 高橋 伊久磨
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.59-62 [2016/3] 日産自動車(株)
2016 11 848 31181 2014B5120, 2015A5120 硬X 線光電子分光法による保存試験前後におけるリチウムイオン二次電池の負極表面解析 大川 真弓
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.53-55 [2016/3] パナソニック(株)
2016 11 849 31182 2014B5420, 2015A5420 XAFS を用いた新規ニオブ窒化物中のニオブ価数分析 藏渕 孝浩
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.56-58 [2016/3] パナソニック(株)
2016 1 850 31314 2013A5100, 2012B5100
2012A5100, 2011B1649
2011A2003, 2012B1193
Pt–Ti–O Gate Silicon–Metal–Insulator–Semiconductor Field-Effect Transistor Hydrogen Gas Sensors in Harsh Environments 宇佐ウサガワ 利幸トシユキ
          Jpn. J. Appl. Phys., 55, 067102 (2916) [2016/05] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 11 851 30599 2014A5100, 2013B5100
2013A5100
硬X線磁気顕微鏡による焼結ショウケツネオジム磁石ジシャク磁化ジカ反転ハンテン過程カテイ観察カンサツ 上田 和浩
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.45-48 [2016/3] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 11 852 30600 2015A5400, 2014B5400
2014A5400
サブピクセルシフトホウモチいたチョウ解像カイゾウXセンCTの開発カイハツ 米山ヨネヤマ 明男アキオ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.49-52 [2016/3] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 1 853 32059 2014B5100, 2014A5100
2013B5100, 2013A5100
Measuring Magnetisation Reversal in Micron-Sized Nd2Fe14B Single Crystals by Microbeam X-ray Magnetic Circular Dichroism 菅原スガワラ アキラ
           Journal of Physics D: Applied Physics 49, 425001(2016) [2016/8] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 11 854 31957 2014A5110, 2014B5110
2014A5410, 2014B5410
ニッケル水素電池正極用高次Co化合物被膜の放射光分析 土井 修一
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.41-44 [2016/3] (株)富士通研究所
2016 1 855 31840 2015A5110, 2015A5410
2015B5110, 2015B5410
Nanoparticulate BaTiO3 film produced by aerosol-type nanoparticle deposition 今中 佳彦
          Journal of Nanoparticle Research 18:102[2016/4/12] (株)富士通研究所
2016 11 856 31223 2012B1861, 2013A1797
2014A5110, 2014B5110
硬X線光電子分光法を用いたGaN-HEMTのバンド構造解析技術開発 野村ノムラ 健二ケンジ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.36-40 [2016/3] (株)富士通研究所
2016 11 857 32306 2014B5130 SrTiO3 単結晶のTi-K 偏光XANES および蛍光X 線評価 上原ウエハラ ヤスシ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.29-31 [2016/3] 三菱ミツビシ電機デンキカブ
2016 11 858 31307 2012B5131, 2012B5430
2013A5131, 2013A5430
2013B5131, 2014A5131
InAlNエピタキシャル薄膜の構造解析 本谷モトヤ ツカサ
          サンビーム年報・成果集 Vol.5 2015, p.32-35 [2016/3] 三菱ミツビシ電機デンキカブ
2016 1 859 32307 2011B5132, 2012B5132
2013A5130, 2013B5132
L-series X-ray emission spectra of 3d-metal compounds with various excitation conditions 上原ウエハラ ヤスシ
          X-Ray Spectrom. 45, 357–362 (2016). 三菱ミツビシ電機デンキカブ
2016 1 860 31678 2012A5130, 2012B5130
2013B5130
 Higher-order-structure Formation in Liquid Crystal Epoxy Thermosets Investigated by Synchrotron Radiation-Wide-angle X-ray Diffraction 前田マエダ りな
          10.1246/cl.160249 東工大トウコウダイ三菱ミツビシ電機デンキ(株)カフ
2016 9 861 32353 2013B5010, 2014A5010 積層造形品の残留応力評価 日比野ヒビノ 真也
          第16回サンビーム研究発表会(第13回SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] 川崎重工業(株)
2016 9 862 32354 2015A5310, 2015B5310
2016A5310
ガス雰囲気変動下における三元触媒のXAFS評価 松田マツダ 千明チアキ
          第16回サンビーム研究発表会(第13回SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] 川崎重工業(株)
2016 9 863 32447 2015A5020, 2015B5020 硬X線光電子分光法を用いたアルミ合金上の酸化膜の測定 北原キタハラ アマネ
          第16回サンビーム研究発表会(第13回SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 9 864 32449 2015A5320, 2015B5320                        
2016A5320
XAFSとSANSを併用した鋼材表面の腐食過程の評価(3) 横溝ヨコミゾ シンサトシ
          第16回サンビーム研究発表会(第13回SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 9 865 29926 2013A5320, 2013B5320
2014A5320, 2014B5320
J-PARC大観による鋼材さびの乾湿過程のSANS評価その2 若林ワカバヤシ 琢巳タクミ
          一般社団法人 日本鉄鋼協会 第170回 秋季講演大会[2015/09/16-18] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 9 866 29925 2013A5320, 2013B5320
2014A5320, 2014B5320
XAFSとSANSを併用した鋼材表面の腐食過程の評価 横溝ヨコミゾ シンサトシ
           製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会 第64回会議[2015/05/28] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 9 867 29924 2013A5320, 2013B5320                        
2014A5320, 2014B5320
XAFSとSANSを併用した鋼材表面の腐食過程の評価(2) 横溝ヨコミゾ シンサトシ
          第15回サンビーム研究発表会(第12回SPring-8産業利用報告会) [2015/9/3-4] (株)カフコベルコ科研カケン
2016 9 868 32446 2013B5020, 2014A5020  Si添加鋼の加熱中のスケール生成挙動の観察 中久保 昌平
          第15回サンビーム研究発表会(第12回SPring-8産業利用報告会) [2015/9/3-4] (株)カフ神戸製鋼所
2016 5 869 32445 2013B5020, 2014A5020
2014B5020
SPring-8 を活用したスケール生成、剥離挙動のその場観察 中久保 昌平
          鉄鋼協会・第143回圧延理論部会 優秀講演賞[2015/11/26-27] (株)カフ神戸製鋼所
2016 9 870 32707 2013B5020, 2014A5020
2014B5020
SPring-8 を活用したスケール生成、剥離挙動のその場観察 中久保 昌平
          鉄鋼協会・第143回圧延理論部会 [2015/11/26-27] (株)カフ神戸製鋼所
2016 3 871 32453 2008B5020, 2009A5020
2009B5020
Calculation of boundary conditions between internal and external oxidation in silicon and chromium containing steels 中久保 昌平
          High-Temperature Oxidation and Corrosion 2010.
Materials Science Forum 696:88-93 
(株)カフ神戸製鋼所
2016 9 872 32708 2008B5020, 2009A5020
2009B5020
Calculation of boundary conditions between internal and external oxidation in silicon and chromium containing steels 中久保 昌平
          International Symposium on High-temperature Oxidation and Corrosion , ISHOC-10 Nov. 8-11 2010 Zushi, Japan (株)カフ神戸製鋼所
2016 2 873 32402 2009B5321 Advanced Techniques for Analyzing Corrosion Resistance of Steels for Infrastructure Nakayama Takenori
          KOBELCO TECHNOLOGY REVIEW, No.34, 1-5,(2016). Kobe Steel, ltd.
2016 2 874 32403 2009B5321 Investigation on Metal Corrosion Phenomena by Using Synchrotron Radiation and Neutron Beams Nakayama Takenori
          Corrosion Engineering, Vol.64, No.7, 226-235 (2015). Kobe Steel, ltd.
2016 9 875 32358 2015B5030, 2015B1870
2015B1616
放射光を用いた金属/樹脂界面の化学状態分析 久保 優吾
          第16回サンビーム研究発表会(第13回 SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] 住友電気工業(株)
2016 9 876 32356 2014B5330, 2015A5030
2015B5330
放射光分析を用いた電池材料の構造解析 徳田 一弥
          第16回サンビーム研究発表会(第13回 SPring-8産業利用報告会) [2016/9/7-8] 住友電気工業(株)
2016 9 877 32285 2014A5340, 2014B5340
2015A5340
リチウムイオン二次ニジ電池デンチ正極セイキョクカツ物質ブッシツのin situ XAFS解析カイセキ 後藤ゴトウ 習志シュウジ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] ソニー(カブ)
2016 9 878 31916 2015B5360 エックス線吸収微細構造(XAFS)法によるMOCVD成長ゲルマニウムスズ(GeSn)薄膜 臼田 宏治
          応用物理学会学術講演会 [2016.03.19-03.22] (株)カブ東芝トウシバ
2016 8 879 31917 2014A5060, 2014B5060
2015A5060, 2015B5060
硬X線光電子分光法(HAXPES)によるゲルマニウムスズ薄膜の深さ方向化学結合状態評価 臼田ウスダ 宏治コウジ
          SPring-8利用推進協議会次世代先端デバイス研究会 [2016.03.18] (株)カブ東芝トウシバ
2016 8 880 31918 2014A5060, 2014B5060
2015A5060, 2015B5060
硬X線光電子分法によるゲルマニウムスズ薄膜の深さ方向結合状態評価 臼田ウスダ 宏治コウジ
          第10回 九州シンクロトロン光研究センター研究成果報告会 [2016.08.03] (株)カブ東芝トウシバ
2016 9 881 31919 2014A5060, 2014B5060
2015A5060, 2015B5060
Depth Characterization of Chemical States in GeSn Thin Film by HAXPES 臼田ウスダ 宏治コウジ
          MRS Spring Meeting [2016.03.28-04.01] (株)カブ東芝トウシバ
2016 5 882 31994 2014A5060, 2014B5060
2015A5060
コウXセン光電子コウデンシ分光ブンコウ(HAXPES)ホウによるゲルマニウムスズ(GeSn)薄膜ハクマクフカ方向ホウコウ組成ソセイ評価ヒョウカ 臼田ウスダ 宏治コウジ
          第15回サンビーム研究発表会(第12回SPring-8産業利用報告会) [2015/9/3-4] (株)カブ東芝トウシバ
2016 9 883 32334 2015A5060, 2015B5060
2016A5060
HAXPESによる半導体ハンドウタイ薄膜ハクマクフカ方向ホウコウ分析ブンセキ 吉木ヨシキ 昌彦マサヒコ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)カブ東芝トウシバ
2016 9 884 32348 2014A5360, 2014B5360
2015A5360, 2015B5360
2016A5360
XAFS法によるMOCVD成長GeSn薄膜の局所構造評価 臼田ウスダ 宏治コウジ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)カブ東芝トウシバ
2016 9 885 31910 2012A5350, 2012B5320
2013A5350, 2013B5350
2014A5350, 2014B5350
XAFS Speciation of Trace Elements in By-Product from Coal Combustion Plant 山本ヤマモト トオル
          15th Workshop on Progress in Trace Metal Speciation for Environmental Analytical Chemistry   [2016/09/04-09/08] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 8 886 31911 2012A5351, 2012B5320 2013A5350, 2013B5350 2014A5350, 2014B5350 2015A5350, 2015B5350 2016A5350 放射光ホウシャコウ分析ブンセキによる微量ビリョウ物質ブッシツ挙動キョドウ解明カイメイけた 山本ヤマモト トオル
          ダイ10カイ九州キュウシュウシンクロトロンヒカリ研究ケンキュウセンター研究ケンキュウ成果セイカ報告ホウコクカイ [2016/08/03] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 9 887 31951 2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
混合正極中のスピネル酸化物と 層状酸化物の劣化解析 小林 剛
          第56回電池討論会  [2015/11/11-11/13] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 9 888 31952 2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
リチウム二次電池における層状酸化物正極の劣化挙動解析 小林 剛
          粉体工学会主催第51回技術討論会 [2016/06/14-6/15] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 8 889 31953 2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
リチウム二次電池における層状酸化物正極の劣化挙動解析 小林コバヤシ タケシ
          第381回電池技術委員会 講演会 [2016/06/17] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 9 890 31954 2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
A novel quantitative diagnostic technique for charge-discharge degradation mechanism of spinel and layered oxides in  blended cathode of lithium-ion battery   小林コバヤシ タケシ
          18th International Meeting on Lithium Batteries (IMLB2016)  [2016/06/19-06/24] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 5 891 31955 2014A5350, 2014B5350
2015A5350, 2015B5350
LiNi0.5Co0.2Mn0.3O2の充放電劣化挙動の解明  小林コバヤシ タケシ
          公益財団法人電気化学会電池技術委員会 電池技術委員会賞 [2015/11/12] イチザイ電力デンリョク中央チュウオウ研究所ケンキュウジョ
2016 9 892 32065 2013A5050, 2013B5050
2014A5050, 2014B5050
SPring-8放射光によるガスタービン動翼材のクリープ損傷評価 向井ムカイ 康博ヤスヒロ
          火力カリョク原子力ゲンシリョク発電ハツデン技術ギジュツ協会キョウカイ 研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ [2015/12/03] 関西カンサイ電力デンリョクカブ
2016 9 893 32070 2014B5050, 2015A5050
2015B5050, 2016A5050
放射光X線回折法によるガスタービン動翼Ni基超合金の損傷評価 向井ムカイ 康博ヤスヒロ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] 関西カンサイ電力デンリョクカブ
2016 9 894 32309 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
Characterization of Helical Dislocations in Ammonothermal GaN Substrate by Heat Treatment+A1 ホリフチ 嘉代カヨ
          The 18th International Conference on Crystal Growth and Epitaxy (ICCGE-18) [2016/8/7-12] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 8 895 32320 2012A5371, 2013A5370
2014A5370, 2014B5371
Solution growth of high-quality 4H-SiC bulk crystals -Trials of dislocation-free bulk growth- ダン 克典カツノリ
          International Workshop on Wide-Bandgap Semiconductor Power Electronics [2016/5/21-22] トヨタ自動車ジドウシャ(株)
2016 9 896 32312 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
アモノサーマル法で作製されたGaN基板中のつる巻きバネ状転位の解析 ホリフチ 嘉代カヨ
          秋季 応用物理学会学術講演会 [2015/9/13-16] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 897 32313 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
GaN単結晶の転位の熱挙動解析 山口ヤマグチ サトシ
          日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
[2016/1/9-11]
(株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 898 32314 2011B5370, 2012A5370
2013B5370, 2014A5370
2014B5371, 2015A5371
2015B5370
X線トポグラフィ向け原子核乾板の検討 山口ヤマグチ サトシ
          日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
[2016/1/9-11]
(株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 899 32315 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
GaN結晶中のヘリカル転位の解析 ホリフチ 嘉代カヨ
          日本顕微鏡学会第72回学術講演会 [2016/6/14-16] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 900 32316 2011B5370, 2012A5370
2012B5370, 2013A5370
GaN単結晶の転位の熱挙動解析 山口ヤマグチ サトシ
          2016年度第1回X線トポグラフィ研究会
[2016/8/5]
(株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 901 32362 2014B5071, 2015A5071
2015B5071
HAXPESによるリチウム二次ニジ電池デンチ分析ブンセキ 高橋タカハシ 直子ナオコ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 902 32323 2015B5070 SR-XRFによるパワーコントロールユニットヨウ半導体ハンドウタイ素子ソシ分析ブンセキ 小坂コサカ サトル
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 903 32321 2012A5371, 2013A5370
2014A5370, 2014B5371
溶液ヨウエキホウSiC単結晶タンケッショウのXセントポグラフィ観察カンサツ 山口ヤマグチ サトシ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 904 32317 2015A7027, 2015A5372
2015B7027, 2015B5371
バイメタリック触媒ショクバイのoperando 3次元ジゲン原子ゲンシ分布ブンプ解析カイセキ 西村ニシムラ 友作ユウサク
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 905 31517 2014B5071, 2015A5071
2015B5071
Li二次電池負極SEIのHAXPES分析 高橋タカハシ 直子ナオコ
          ダイ51カイXセン分析ブンセキ討論トウロンカイ[2015/10/29-30] (株)豊田中央研究所カイシャ
2016 9 906 32226 2015A5380, 2015B5380
2016A5380
偏光XAFS及びFEFFを用いたInGaN結晶のIn分布可視化(2) 吉成ヨシナリ 篤史アツシ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 9 907 32006 2014B5080, 2014B5380 完全結晶に近い高結晶性試料のX線回折測定 宮野ミヤノ 宗彦ムネヒコ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 8 908 31869 2014A5080, 2014B5080
2015A5080
GaN系高効率LEDの発展と材料評価の役割 サカキ 篤史アツシ
          カメカテクニカルセミナー2015 [2015/10/23] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 5 909 31870 2014A5080, 2014B5080
2015A5080
放射光マイクロビームX線による高効率LED発光層の評価 サカキ 篤史アツシ
          SPring-8利用推進協議会総会・研究開発委員会 受賞記念講演 [2016/4/13] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 8 910 31871 2014A5080, 2014B5080
2015A5080
放射光マイクロビームX線によるInGaN発光層の評価 サカキ 篤史アツシ
          第8回 窒化物半導体結晶成長講演会 [2016/5/9-10] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 8 911 31872 2014A5080, 2014B5080
2015A5080
放射光を利用した高効率LEDの評価 サカキ 篤史アツシ
          第10回 九州シンクロトロン光研究センター研究成果報告会 [2016/8/3] 日亜ニチア化学カガク工業コウギョウカブ
2016 5 912 29856 2012A5392, 2012A5090
2012B5392, 2013A5091
2013A5392, 2013B5391 2013B5392, 2014A5091 2014A5392, 2014B5092
リチウムイオン電池の電子の動きを可視化する技術開発と電気自動車用高容量電池開発への寄与 今井 英人
          第13回ひょうごSPring-8賞
[2015/9/1]
(株)日産アーク
2016 8 913 29857 2012A5392, 2012A5090 2012B5392, 2013A5091 2013A5392, 2013B5391 2013B5392, 2014A5091 2014A5392, 2014B5092 リチウムイオン電池の電子の動きを可視化する技術開発と電気自動車用高容量電池開発への寄与 今井イマイ 英人ヒデト
          第15回サンビーム研究発表会(第12回SPring-8産業利用報告会) [2015/9/3-4] カブ日産ニッサンアーク
2016 8 914 29855 2013B5391, 2014A5391 Recent topics on x-ray analysis on fuel cell catalysts 今井イマイ 英人ヒデト
          227th Electrochemical Society Meeting
[2015/5/24-28]
カブ日産ニッサンアーク
2016 9 915 28066 2014A5090  A Haxpes Study on Solid Electrolyte Interphase Formed on a Carbon Negative Electrode 松本 匡史
          226th Meeting of The Electrochemical Society [2014/10/5-9] (株)日産アーク
2016 9 916 29690 2014B5420 XAFS測定による酸化物薄膜材料の構造解析 相良 暁彦
          第15回サンビーム研究発表会(第12回SPring-8産業利用報告会) [2015/9/3-4] パナソニック(株)
2016 9 917 32304 2015A5120 Pt / Y:BaZrO3 界面における全固体電気二重層の形成、および、高プロトン濃度空間電荷層の分析 浅野 哲也
          第41回固体イオニクス討論会(2015/11) パナソニック(株)
2016 9 918 32305 2014B5120 Direct Evidences for Ion Accumulation at the Pristine Interface between a Solid State Oxide Electrolyte and a Metal Electrode 浅野 哲也
          2015 MRS Fall Meeting(2015/12) パナソニック(株)
2016 8 919 32369 2010B5100 X線反射率法の応用(2) 磁性体多層膜への応用 上田 和浩
          第6回講習会 X線反射率による薄膜・多層膜の解析
 [2016/08/25]
(株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 9 920 32370 2015A5400, 2015A5400 スキャントポグラフィー法を用いたSiCウェハーの定量的な結晶歪みの検出 米山ヨネヤマ 明男アキオ
          応用物理学会学術講演会[2016/3] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 9 921 32371 2015A5400, 2015A5400
2016A5400
スキャントポグラフィー法によるSiCウェハーの定量的な結晶歪みの検出 米山ヨネヤマ 明男アキオ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 9 922 32372   サンビームにおける多機能走査型X線顕微鏡の開発 米山ヨネヤマ 明男アキオ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 9 923 32373 2014B5100, 2014A5100
2013B5100, 2013A5100
Mea:架橋ポリエチレン被覆材の銅拡散状態分布の解析 ヒャク 秀人
           Journal of Physics D: Applied Physics 49, 425001(2016) [2016/8] 日立ヒタチ金属キンゾク(株)カフ
2016 9 924 32374   圧電素子を用いた高速走査型X線顕微鏡の開発 米山ヨネヤマ 明男アキオ
          日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム[2016/1] (株)カフ日立ヒタチ製作所セイサクショ
2016 9 925 32390 2015A5400, 2105B5400
2014B5400, 2014A5400
金属イオン拡散を抑制する高信頼性半導体材料の開発と拡散抑制機構の検証 中山ナカヤマ 紀行ノリユキ
          エレクトロニクス実装学会第30回講演大会[2016/3] 日立ヒタチ化成カセイ(株)カフ
2016 9 926 32391 2015A5400, 2105B5400
2014B5400, 2014A5400
金属イオン拡散を抑制する高信頼性半導体材料の開発と拡散抑制機構の検証 中山 紀行
          エレクトロニクス実装学会第26回2016ワークショップ[2016/9] 日立ヒタチ化成カセイ(株)カフ
2016 9 927 32364 2015A5110, 2015A5410
2015B5110, 2015B5410
BaTiO3ナノ粒子膜の放射光による構造評価 淡路アワジ 直樹ナオキ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] カブ富士通フジツウ研究所ケンキュウショ
2016 9 928 31308 2012B5131, 2013A5131
2013B5131, 2014A5131
製品開発現場における微小角入射X線回折(GIXD)法の利用 本谷モトヤ ツカサ
          日本表面科学会第1回関東支部講演大会[2016.04.09] 三菱ミツビシ電機デンキカブ
2016 9 929 31936 2012B5131, 2013A5131
2013B5131, 2014A5131
微小角入射X線回折法による窒化物半導体表面の構造解析 本谷モトヤ ツカサ
          第47回表面分析研究会 [2016.06.23-06.24]  三菱ミツビシ電機デンキカブ
2016 9 930 32367 2015A5130, 2015B5130
2016A5130
原子層堆積法および熱処理における界面反応の酸化種依存性 諏訪スワ 智之
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] 東北大トウホクダイ三菱ミツビシ電機デンキ(株)カフ
2016 9 931 32308 2015A5431, 2015B5431
2015A1963
冷凍レイトウ過程カテイによる食品ショクヒン構造コウゾウ変化ヘンカ 須藤スドウ 和幸カズユキ
          第16回サンビーム研究ケンキュウ発表ハッピョウカイ(第13回SPring-8産業利用報告会)[2016/9/7-8] 三菱ミツビシ電機デンキカブ