第8回サンビーム研究発表会

（第5回SPring-8産業利用報告会）

報告書

期間：　2008年9月18日（木）〜19（金）

場所：　日本未来科学館 ７階　HAL みらいCAN ホール(口頭発表)

　　　　日本未来科学館 ７階　INH　イノベーションホール(ポスター)

主催：　産業用専用ビームライン建設利用共同体（サンビーム共同体）

（財）高輝度光科学研究センター（JASRI）

（財）ひょうご科学技術協会（HSTA）

共催：　SPring-8利用推進協議会

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		JASRIご挨拶
		サンビーム挨拶
		タイトル	発表者
口頭		サンビーム設備更新報告	尾崎 伸司　　　松下電器産業（株）
	S01	サンビーム設備更新報告１　ID単色器の液体窒素冷却化	飯原 順次　　　住友電気工業（株）
	S02	サンビーム設備更新報告２　蛍光X線装置改造	竹村 モモ子　　（株）東芝
	S03	サンビーム設備更新報告３　ID８軸回折計の導入と性能評価	淡路 直樹　　（株）富士通研究所
	S04	サンビーム設備更新報告４　BM６軸回折計の導入と性能評価	稲葉 雅之　　（株）神戸製鋼所
	S05	サンビーム設備更新報告５　マイクロビーム装置の更新と特性評価	上田 和浩　　（株）日立製作所
	S06	サンビーム設備更新報告６　XAFS測定装置の更新	野中 敬正　　（株）豊田中央研究所
	S07	サンビーム設備更新報告７　フラットパネル検出器の性能評価と回折マッピングへの応用	米山 明男　　（株）日立製作所
	S08	サンビーム設備更新報告８　その場計測用ガス取扱い設備	出口 博史　　　関西電力（株）
	S09	X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断	井頭 賢一郎　　　川崎重工業（株）
	S11	X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析	斎藤 吉広　　　住友電気工業（株）
	S17	シリコンナノシートの合成と面内構造解析	中野 秀之　　（株）豊田中央研究所
	S21	半導体用シリサイド電極の局所構造解析	與名本 欣樹　　（株）日立製作所
ポスター	S10	さび生成過程における微量添加元素のin-situ XAFS測定	稲葉 雅之　　（株）神戸製鋼所
	S12	XAFS法を用いたタングステンめっき浴中のイオン状態解析	飯原 順次　　住友電気工業（株）
	S13	リチウムイオン二次電池Sn系負極活物質のXAFS解析	工藤 喜弘　　ソニー（株）
	S14	in situXAFSを用いた微量金属の液相反応過程解析	秋保 広幸　　　（財）電力中央研究所
	S15	実用サイズ低温作動固体酸化物形燃料電池セルの残留応力解析	出口 博史　　　関西電力（株）
	S16	FEFFによる半導体材料のEXAFS解析	山崎 英之　　　（株）東芝
	S18	Ｌｉイオン二次電池正極材料ＩｎＳｉｔｕＸＡＦＳ測定	吉田 泰弘　　　日亜化学工業（株）
	S19	カーボン担持貴金属微粒子のin situ局所構造解析	松本 匡史　　　日本電気（株）
	S20	非白金系燃料電池触媒の局所構造解析	今井 英人　　　日本電気（株）
	S22	新回折装置による１ｎｍＣＭＯＳゲート酸化膜の１２桁反射率測定	土井 修一　　　（株）富士通研究所
	S23	新蛍光装置による半導体パターンの１０μm領域のXAFS測定	野村 健二　　　（株）富士通研究所
	S24	松下のサンビーム10年を振り返って	尾崎 伸司　　　松下電器産業（株）
	S25	L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討（２）	上原 康　　　三菱電機（株）

社名は発表当時のままにしてあります。「松下電器産業株式会社」は 現在「パナソニック株式会社」に変更されています。