| JASRI ご挨拶 | |
| サンビーム挨拶 |
| 口頭及びポスター発表 |
| S-01 | XAFSを用いたNi-MH電池正極材料の評価 | 川崎重工業(株) | 中山 耕輔 |
| S-04 | 放射光X線回折実験によるBi系超伝導線材の評価 | 住友電気工業(株) | 上村 重明 |
| S-06 | 二酸化炭素を吸収したアミン水溶液のX線散乱解析 | 関西電力(株) | 出口 博史 |
| S-10 | 放射光マイクロX線による蛍光体フリー白色LEDの評価 | 日亜化学工業(株) | 榊 篤史 |
| S-14 | SPring-8における磁気顕微鏡の開発 | (株)日立製作所 | 上田 和浩 |
| S-16 | XANESによる銅と絶縁油の反応解析 | 三菱電機(株) | 上原 康 |
| ポスター発表 |
| S-02 | モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明 | 川崎重工業(株) | 清瀧 元 |
| S-03 | 鉄鋼材料を対象としたSR利用その場測定の取り組み | (株)神戸製鋼所 | 稲葉 雅之 |
| S-05 | ペンタセン薄膜のX線回折法による構造解析 | ソニー(株) | 越谷 直樹 |
| S-07 | 排ガス中ガス状セレン測定法の規格化に関する検討 | (財)電力中央研究所 | 野田 直希 |
| S-08 | XAFSによる工業材料中六価クロムの定量分析 | (株)東芝 | 沖 充浩 |
| S-09 | 高エネルギーX線を用いた残留応力解析 | (株)豊田中央研究所 | 山口 聡 |
| S-11 | in-situ XAFS/XRD測定によるLi二次電池正極材料の構造解析 | 日亜化学工業(株) | 吉田 泰弘 |
| S-12 | 高容量Li-ion電池用正極のIn-situ技術を適用した局所構造解析 | 日産自動車(株) | 伊藤 淳史 |
| S-13 | Si基板上汚染金属の化学状態分析 | パナソニック(株) | 尾崎 伸司 |
| S-15 | 領域拡大フーリエ変換ホログラフィーイメージング法の開発 | (株)富士通研究所 | 淡路 直樹 |
| S-17 | ラジカル改質されたCVD-SiO2膜のX線反射率による密度評価 | 三菱電機(株) | 河瀬 和雅 |
| S-18 | サンビームのX線回折装置 | (株)神戸製鋼所 | 北原 周 |
| S-19 | サンビームのXAFS装置 | (株)東芝 | 吉木 昌彦 |
| S-20 | サンビームのイメージング | (株)日立製作所 | 米山 明男 |
| あとがき |