第7回サンビーム研究発表会
（第4回SPring-8産業利用報告会）
報告書
期間： 2007年9月11日（火）～12（水）
場所： 総評会館 2階 大会議室（東京都千代田区神田駿河台3-2-11）
主催： 産業用専用ビームライン建設利用共同体（サンビーム共同体）
（財）高輝度光科学研究センター（JASRI）
（財）ひょうご科学技術協会（HSTA）
共催： SPring-8利用推進協議会
目次
口頭及びポスター発表
S9. リチウムイオン電池正極材料のXAFS解析 ㈱豊田中央研究所 野中敬正
S13. 斜入射X線回折法によるガスクラスターイオンビーム加工の表面損傷の評価
㈱日立製作所 平野辰巳
S18. L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討
三菱電機㈱ 上原 康
S17. Ni薄膜のマイクロ蛍光XAFS分析 松下電器産業㈱ 尾崎伸司
S3. 溶融塩浴からのタングステン電析技術とXAFSを利用した浴分析
住友電気工業㈱ 新田耕司
ポスター発表
S1. 高エネルギーX線を用いた残留γ測定 ㈱神戸製鋼所 北原 周
S2. Fe人工さび初期生成過程のその場観察実験 ㈱神戸製鋼所 河野研二
S4. 希土類添加SiO2ガラスファイバの構造解析 住友電気工業㈱ 斎藤吉広
S5. アニール処理したGaInN量子井戸のXAFS解析 ソニー㈱ 工藤喜弘
S6. 放射光を利用した微量元素の分析技術 (財)電力中央研究所 山本 融
S7. 低温作動固体酸化物形燃料電池実用サイズセルの歪み評価
関西電力㈱ 出口博史
S8. XAFSによるランタンアルミネート膜の構造解析 ㈱東芝 吉木昌彦
S10. リチウムイオン二次電池正極材料の構造解析 日亜化学工業㈱ 吉田泰弘
S11. 時分割 in situ X線回折による燃料電池触媒の表面構造解析
日本電気㈱ 今井英人
S12. in situ XRDおよびXAFSによるPd微粒子水素吸蔵過程の直接観測
日本電気㈱ 松本匡史
S14. BL-16B2におけるイメージングXAFSの試み ㈱日立製作所 米山明男
S15. X線トポグラフ法によるLSIパッケージ内部の応力評価
㈱富士通研究所 野村健二
S16. X線3Dトポグラフィー用特殊スリット（V-slit）の評価
富士電機アドバンストテクノロジー㈱ 田沼良平
S19. X線反射率測定によるラジカル酸化SiO2膜の密度評価
三菱電機㈱ 河瀬和雅